真空度控制系统、控制方法及X射线荧光光谱仪

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510873047.3
申请日
2015-12-02
公开(公告)号
CN105510368A
公开(公告)日
2016-04-20
发明(设计)人
麻硕 邱忠义 陈卓哲 邓赛文
申请人
申请人地址
100070 北京市丰台区科学城富丰路6号
IPC主分类号
G01N23223
IPC分类号
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
张海英;林波
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
杨宁波 .
中国专利 :CN203432926U ,2014-02-12
[2]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
唐勇刚 .
中国专利 :CN304577303S ,2018-04-10
[3]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
唐勇刚 .
中国专利 :CN304623933S ,2018-05-11
[4]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
韩晓朋 .
中国专利 :CN301646587S ,2011-08-17
[5]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
韩晓朋 .
中国专利 :CN202018430U ,2011-10-26
[6]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
刘小东 ;
周力 ;
滕云 .
中国专利 :CN113552158B ,2024-08-16
[7]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
刘小东 ;
周力 ;
滕云 .
中国专利 :CN113552158A ,2021-10-26
[8]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
杨李峰 ;
张峰 ;
王海燕 .
中国专利 :CN302174366S ,2012-11-14
[9]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
杨宁波 .
中国专利 :CN302307417S ,2013-01-30
[10]
X射线荧光光谱仪 [P]. 
滕飞 ;
刘小东 ;
李伯伦 .
中国专利 :CN212540197U ,2021-02-12