镭射扫描检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120135200.X

申请日：

2011-04-29

公开(公告)号：

CN202083364U

公开(公告)日：

2011-12-21

发明(设计)人：

何安静李逍剑

申请人：

申请人地址：

201206 上海市浦东新区金藏路366号

IPC主分类号：

G01B1500

IPC分类号：

代理机构：

上海精晟知识产权代理有限公司 31253

代理人：

马家骏

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-09-26	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101453623078 IPC(主分类):G01B 15/00 专利号:ZL201120135200X 变更事项:专利权人变更前权利人:赫比(上海)家用电器产品有限公司变更后权利人:赫比(上海)自动化科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:201206 上海市浦东新区金藏路366号变更后权利人:201206 上海浦东新区金闽路1006号登记生效日:20120823
2014-06-25	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101583126426 IPC(主分类):G01B 15/00 专利号:ZL201120135200X 申请日:20110429 授权公告日:20111221 终止日期:20130429
2011-12-21	授权	授权

共 50 条

[1]

镭射检测装置的扫描方法 [P].

朱德祥 .

中国专利 :CN105388468A ,2016-03-09

[2]

镭射膜检测装置 [P].

熊伟 ;

徐祥祥 ;

端全银 ;

魏文军 ;

谢勤鑫 ;

杜志国 ;

宋志勇 .

中国专利 :CN205720019U ,2016-11-23

[3]

镭射检测装置 [P].

朱德祥 .

中国专利 :CN205080259U ,2016-03-09

[4]

激光镭射扫描装置 [P].

高超 .

中国专利 :CN216206077U ,2022-04-05

[5]

镭射工件精度检测装置 [P].

李欣 ;

余尚鑫 ;

杨玉磊 .

中国专利 :CN205927547U ,2017-02-08

[6]

镭射工件漏孔检测装置 [P].

余尚鑫 ;

李欣 ;

杨玉磊 .

中国专利 :CN206020694U ,2017-03-15

[7]

一种镭射膜镭射性能检测装置 [P].

李绍国 .

中国专利 :CN217466487U ,2022-09-20

[8]

一种镭射膜镭射性能检测装置 [P].

时亚东 ;

朱时林 ;

范保勇 .

中国专利 :CN223679067U ,2025-12-16

[9]

一种LED板镭射检测装置 [P].

朱岳 ;

冯俊秋 ;

张辉 ;

肖皖龙 .

中国专利 :CN118275742A ,2024-07-02

[10]

镭射检测装置 [P].

朱德祥 .

中国专利 :CN105204086A ,2015-12-30

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