三维目标检测方法、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210872860.9

申请日：

2022-07-21

公开(公告)号：

CN115331025A

公开(公告)日：

2022-11-11

发明(设计)人：

葛政黎泽明

申请人：

申请人地址：

100086 北京市海淀区科学院南路2号3层317

IPC主分类号：

G06V1046

IPC分类号：

G06N304 G06N308 G06V1025 G06V1082

代理机构：

北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319

代理人：

王婷婷

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-11	公开	公开
2022-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06V 10/46 申请日:20220721

共 50 条

[1]

三维目标检测方法、电子设备及存储介质 [P].

李洁 ;

郭锦斌 .

中国专利 :CN117218621B ,2025-12-30

[2]

三维目标检测方法、电子设备及存储介质 [P].

李洁 ;

卢志德 ;

郭锦斌 .

中国专利 :CN117218364B ,2025-12-19

[3]

三维目标检测方法、电子设备及存储介质 [P].

刘迎飞 ;

汪天才 .

中国专利 :CN114758335A ,2022-07-15

[4]

三维目标检测方法、电子设备及存储介质 [P].

肖硕昊 ;

贺振宇 ;

彭紫扬 ;

余俊龙 ;

毛建旭 ;

彭伟星 ;

刘彩萍 ;

王耀南 ;

俞一帆 .

中国专利 :CN119206704A ,2024-12-27

[5]

三维目标检测方法、电子设备及存储介质 [P].

卢志德 ;

李洁 ;

郭锦斌 .

中国专利 :CN117218365B ,2025-10-28

[6]

三维目标检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

万鹏 ;

樊强 .

中国专利 :CN119516312A ,2025-02-25

[7]

三维目标检测方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

张惠敏 ;

马辉 .

中国专利 :CN117422884A ,2024-01-19

[8]

一种三维目标检测方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

齐蕴龙 ;

张毅 .

中国专利 :CN119206177A ,2024-12-27

[9]

三维目标检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

罗粤 .

中国专利 :CN121236347A ,2025-12-30

[10]

三维目标检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

张兆翔 ;

王启泰 ;

陈韫韬 .

中国专利 :CN117037138B ,2025-08-12

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