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一种参数快速扫描测试装置和方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010007232.5
申请日
:
2020-01-04
公开(公告)号
:
CN112305400A
公开(公告)日
:
2021-02-02
发明(设计)人
:
李小虎
刘建明
杨超
谌谦
宋宇
张超
吴羿
杜超
申请人
:
申请人地址
:
610041 四川省成都市高新区益州大道中段1800号天府软件园G1楼22层
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R313185
代理机构
:
北京众元弘策知识产权代理事务所(普通合伙) 11462
代理人
:
宋磊
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-02-23
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200104
2021-02-02
公开
公开
共 50 条
[1]
一种专业快速测试装置和方法
[P].
母天石
论文数:
0
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0
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母天石
.
中国专利
:CN101303664B
,2008-11-12
[2]
一种物理参数测试装置和方法
[P].
王丽
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王丽
;
崔金玉
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崔金玉
;
邵思佳
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邵思佳
;
任海林
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任海林
.
中国专利
:CN113791032A
,2021-12-14
[3]
快速测试装置和方法
[P].
迪德里克·贾斯特斯·玛丽·恩贝森
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迪德里克·贾斯特斯·玛丽·恩贝森
;
龙尼·约翰内斯·库内贡达·莫伦
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龙尼·约翰内斯·库内贡达·莫伦
;
约翰·肯尼思·蔡斯
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约翰·肯尼思·蔡斯
.
中国专利
:CN104582571B
,2015-04-29
[4]
一种测试方法和测试装置
[P].
王甲林
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王甲林
.
中国专利
:CN113076253A
,2021-07-06
[5]
一种测试方法和测试装置
[P].
王甲林
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机构:
北京京东拓先科技有限公司
北京京东拓先科技有限公司
王甲林
.
中国专利
:CN113076253B
,2025-06-17
[6]
一种材料参数的测试方法和测试装置
[P].
吴怀帅
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吴怀帅
;
胡亮
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胡亮
;
田新伟
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田新伟
;
赵志伟
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赵志伟
.
中国专利
:CN112611659A
,2021-04-06
[7]
扫描测试装置与扫描测试方法
[P].
陈柏霖
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机构:
瑞昱半导体股份有限公司
瑞昱半导体股份有限公司
陈柏霖
.
中国专利
:CN113759240B
,2024-05-14
[8]
扫描测试装置与扫描测试方法
[P].
陈柏霖
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陈柏霖
.
中国专利
:CN113759240A
,2021-12-07
[9]
一种线路参数辅助测试装置和方法
[P].
刘壮
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刘壮
;
张波
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张波
;
骆鹏
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骆鹏
;
杨前
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杨前
;
卢鹏
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卢鹏
;
吕峰
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吕峰
;
夏俊飞
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夏俊飞
;
王莉萍
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王莉萍
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林永祥
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林永祥
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张妍
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张妍
;
贺鹏
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贺鹏
;
孙朝晖
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孙朝晖
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王士超
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王士超
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邢鹏
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邢鹏
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林国艳
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林国艳
;
周卫东
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周卫东
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孙姣
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孙姣
;
李风民
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李风民
.
中国专利
:CN107132465A
,2017-09-05
[10]
一种导热参数的测试装置和方法
[P].
钟镭
论文数:
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钟镭
.
中国专利
:CN114062420A
,2022-02-18
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