一种显微观察用样品断面的制备装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202020980796.2
申请日
2020-06-02
公开(公告)号
CN212410224U
公开(公告)日
2021-01-26
发明(设计)人
孙素明 贺江平 王宪忠
申请人
申请人地址
621000 四川省绵阳市绵山路64号
IPC主分类号
G01N128
IPC分类号
G01N142
代理机构
四川省成都市天策商标专利事务所 51213
代理人
赵以鹏
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
观察硅片样品断面的样品台 [P]. 
裘莺 .
中国专利 :CN201122096Y ,2008-09-24
[2]
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中国专利 :CN201540398U ,2010-08-04
[3]
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[4]
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[5]
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[6]
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[7]
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[10]
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