测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品

被引:0
申请号
CN202211117775.8
申请日
2022-09-14
公开(公告)号
CN115373929A
公开(公告)日
2022-11-22
发明(设计)人
黄星 陈硕 徐旭明 曾凡晨 王亚男 王静
申请人
申请人地址
100176 北京市北京经济技术开发区科创十街18号院3号楼1层101室
IPC主分类号
G06F1126
IPC分类号
代理机构
北京市立方律师事务所 11330
代理人
张筱宁
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品 [P]. 
王玮犀 .
中国专利 :CN120407387A ,2025-08-01
[2]
测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品 [P]. 
刘兴波 .
中国专利 :CN121092429A ,2025-12-09
[3]
性能测试方法、装置、程序产品、设备及可读存储介质 [P]. 
蒋兵兵 ;
康艺霖 ;
卜佑军 ;
张桥 ;
陈韵 ;
蔡翰智 ;
王涵 ;
蒋笑笑 ;
胡先君 ;
乔伟 .
中国专利 :CN118114260A ,2024-05-31
[4]
应用测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品 [P]. 
肖磊 ;
寻微微 ;
校莹 ;
方李志 .
中国专利 :CN119621532A ,2025-03-14
[5]
算子测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品 [P]. 
干雨稠 ;
张强 .
中国专利 :CN119576788A ,2025-03-07
[6]
算子测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品 [P]. 
干雨稠 ;
张强 .
中国专利 :CN119576788B ,2025-11-21
[7]
接口测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
李璇 ;
周靖 ;
张炯 ;
陆颂华 ;
毛宇星 .
中国专利 :CN119292939A ,2025-01-10
[8]
软件测试方法、装置、可读存储介质及程序产品 [P]. 
程婧 ;
张寅 ;
厉萍 ;
樊劲松 .
中国专利 :CN119576779A ,2025-03-07
[9]
程序测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
卜小春 .
中国专利 :CN118093362A ,2024-05-28
[10]
程序测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王平 ;
赵灵犀 ;
陈勃 .
中国专利 :CN121116804A ,2025-12-12