沉孔深度测量治具及测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN02115258.6
申请日
2002-05-21
公开(公告)号
CN1459617A
公开(公告)日
2003-12-03
发明(设计)人
沈鹤云 刘圣 赵永强 董桂利 黄龙海
申请人
申请人地址
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
IPC主分类号
G01B518
IPC分类号
代理机构
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法律状态
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共 50 条
[1]
测量治具及测量方法 [P]. 
熊小虎 .
中国专利 :CN106382901B ,2017-02-08
[2]
测量治具、测量设备及测量方法 [P]. 
周荣林 .
中国专利 :CN112161575B ,2021-01-01
[3]
投影测量治具及测量方法 [P]. 
熊小虎 .
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[4]
测量治具及其测量方法 [P]. 
杨生 .
中国专利 :CN107121051A ,2017-09-01
[5]
深度测量治具 [P]. 
朱晓风 ;
吴和平 ;
王应才 .
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[6]
iTOF深度测量系统及深度测量方法 [P]. 
孙瑞 .
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[7]
锥形沉孔的沉头角度测量装置及测量方法 [P]. 
桂林景 ;
王川 ;
刘如刚 ;
高鹿鹿 ;
胡隆伟 ;
何建平 ;
高伟 .
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[8]
深度测量方法、深度测量装置及拍摄设备 [P]. 
吕思豪 .
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[9]
接触深度测量治具 [P]. 
郭奕恒 .
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[10]
沉孔深度测量仪 [P]. 
李华团 .
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