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一种LED晶片焊线推拉力测试仪器
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820739377.2
申请日
:
2018-05-17
公开(公告)号
:
CN208254947U
公开(公告)日
:
2018-12-18
发明(设计)人
:
潘东平
程继华
潘柳静
潘新昌
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙岗区宝龙工业城翠宝路28号赛格导航工业园
IPC主分类号
:
G01N308
IPC分类号
:
G01N302
代理机构
:
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
:
唐致明
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-12-18
授权
授权
共 50 条
[1]
推拉力测试仪
[P].
蒋忠伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋忠伟
.
中国专利
:CN210775019U
,2020-06-16
[2]
一种推拉力测试仪
[P].
罗郁南
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗郁南
.
中国专利
:CN202793665U
,2013-03-13
[3]
推拉力测试仪的拉力测试部
[P].
蒋忠伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋忠伟
.
中国专利
:CN210427227U
,2020-04-28
[4]
推拉力测试仪的推力测试部
[P].
蒋忠伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋忠伟
.
中国专利
:CN210401051U
,2020-04-24
[5]
一种芯片推拉力测试仪
[P].
韩力
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩力
.
中国专利
:CN210052716U
,2020-02-11
[6]
一种芯片推拉力测试仪
[P].
陈卫国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
惠的半导体(上海)有限公司
惠的半导体(上海)有限公司
陈卫国
.
中国专利
:CN221224440U
,2024-06-25
[7]
高速拉力测试仪器
[P].
罗文军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗文军
.
中国专利
:CN203672768U
,2014-06-25
[8]
一种推拉力测试仪
[P].
潘馨瑶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘馨瑶
;
潘红文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘红文
;
刘远征
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘远征
.
中国专利
:CN218350004U
,2023-01-20
[9]
电动推杆推拉力测试仪
[P].
徐雁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐雁
.
中国专利
:CN204988720U
,2016-01-20
[10]
卧式推拉力测试仪
[P].
江林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
江林
;
赵兰兰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵兰兰
;
顾共恩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
顾共恩
;
严湘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
严湘
;
吴振英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴振英
.
中国专利
:CN102033017B
,2011-04-27
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