用于光学检测至少一个对象的检测器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780039435.9

申请日：

2017-04-27

公开(公告)号：

CN109416402A

公开(公告)日：

2019-03-01

发明(设计)人：

S·瓦鲁施 I·布鲁德 R·森德 N·安德马尔 A·沃格勒 J-M·阿斯福尔

申请人：

申请人地址：

德国路德维希港

IPC主分类号：

G01S1746

IPC分类号：

G01S7481

代理机构：

北京市中咨律师事务所 11247

代理人：

姜利芳;杨晓光

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-05-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 17/46 申请日:20170427
2019-03-01	公开	公开

共 50 条

[1]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

S·瓦鲁施 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

N·安德马尔 ;

A·沃格勒 ;

J-M·阿斯福尔 .

中国专利 :CN109416249A ,2019-03-01

[2]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

W·赫尔梅斯 ;

C·朗根施密德 ;

S·瓦鲁施 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 .

中国专利 :CN109564286A ,2019-04-02

[3]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 .

中国专利 :CN108291970A ,2018-07-17

[4]

用于至少一个对象的光学检测的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 .

中国专利 :CN107407726A ,2017-11-28

[5]

用于至少一个对象的光学检测的检测器 [P].

S·瓦鲁施 ;

I·布鲁德 ;

R·森德 ;

C·朗根施密德 ;

W·赫尔梅斯 ;

E·蒂尔 ;

S·伊尔勒 .

中国专利 :CN107438775B ,2017-12-05

[6]

用于至少一个对象的光学检测的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 .

中国专利 :CN107003117A ,2017-08-01

[7]

用于至少一个对象的光学检测的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 .

中国专利 :CN107533126A ,2018-01-02

[8]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 .

中国专利 :CN107003123A ,2017-08-01

[9]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

M·艾伯斯派克 ;

C·朗根施密德 ;

R·森德 ;

T·欧姆 ;

S·恒恩 ;

I·布鲁德 ;

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

P·希伦 ;

P·辛德勒 ;

C·伦纳茨 .

中国专利 :CN109964148A ,2019-07-02

[10]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

C·朗根施密德 .

中国专利 :CN108292175A ,2018-07-17

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