一种基于机器视觉技术的光学元件缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810667885.9
申请日
2018-06-26
公开(公告)号
CN109030495A
公开(公告)日
2018-12-18
发明(设计)人
郭右利 王芳
申请人
申请人地址
116023 辽宁省大连市沙河口区翰林园23号2单元7层2号
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
代理机构
大连大工智讯专利代理事务所(特殊普通合伙) 21244
代理人
崔雪
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
一种光学元件的缺陷检测装置及其缺陷检测方法 [P]. 
潘挺 ;
张涛 ;
周卓伟 .
中国专利 :CN103245670B ,2013-08-14
[2]
光学元件的缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P]. 
栗本英治 ;
南功治 .
中国专利 :CN1815206A ,2006-08-09
[3]
一种基于机器视觉技术的产品外观缺陷检测方法 [P]. 
宋长乐 ;
张义伟 ;
徐洋 ;
朱文祥 .
中国专利 :CN120471844A ,2025-08-12
[4]
一种基于机器视觉的产品缺陷检测装置及产品缺陷检测方法 [P]. 
曾琦 ;
李材秉 ;
刘东辉 ;
李振果 ;
谢洪喜 ;
蔡跃祥 ;
唐锋 .
中国专利 :CN113376165A ,2021-09-10
[5]
一种基于机器视觉的产品缺陷检测装置及产品缺陷检测方法 [P]. 
曾琦 ;
李材秉 ;
刘东辉 ;
李振果 ;
谢洪喜 ;
蔡跃祥 ;
唐锋 .
中国专利 :CN113376165B ,2024-10-18
[6]
一种基于机器视觉技术的电子屏幕缺陷检测方法 [P]. 
吴斌 ;
赵岩 ;
孙丰 .
中国专利 :CN111524101A ,2020-08-11
[7]
基于改进YOLOv10的石英光学元件缺陷检测方法 [P]. 
吴迪富 ;
郭江 ;
孙玉娟 ;
陶国祥 ;
康贻兵 ;
王志文 ;
蔡燕华 .
中国专利 :CN119831940A ,2025-04-15
[8]
基于波前测量的光学元件缺陷检测装置和检测方法 [P]. 
潘兴臣 ;
刘诚 ;
朱健强 .
中国专利 :CN109708854A ,2019-05-03
[9]
一种基于机器视觉技术的物体表面缺陷检测装置 [P]. 
沈邵佐 ;
王振宇 ;
马澄炯 ;
丁佳钧 .
中国专利 :CN218331169U ,2023-01-17
[10]
基于机器视觉技术的滤纸缺陷检测系统及其检测方法 [P]. 
闫清泉 .
中国专利 :CN102323272A ,2012-01-18