基于光学测微原理的高精度量尺

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720239156.4

申请日：

2017-03-13

公开(公告)号：

CN206514818U

公开(公告)日：

2017-09-22

发明(设计)人：

廖孟光李羲李朝奎易四海

申请人：

申请人地址：

411201 湖南省湘潭市雨湖区桃园路1号

IPC主分类号：

G01B1108

IPC分类号：

G01B1112

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-02	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/08 申请日:20170313 授权公告日:20170922 终止日期:20200313
2017-09-22	授权	授权

共 50 条

[1]

基于光学测微原理的高精度量尺 [P].

廖孟光 ;

李羲 ;

李朝奎 ;

易四海 .

中国专利 :CN108020166A ,2018-05-11

[2]

基于螺旋测微原理的高精度位置定位装置 [P].

刘灿昌 ;

刘文晓 ;

栾军超 ;

苏红建 ;

张鑫越 ;

周英超 ;

邵金菊 .

中国专利 :CN110793420A ,2020-02-14

[3]

一种高精度量尺 [P].

周长亮 .

中国专利 :CN211783492U ,2020-10-27

[4]

一种内外径高精度量尺 [P].

廖孟光 ;

李羲 ;

李朝奎 ;

易四海 .

中国专利 :CN206514803U ,2017-09-22

[5]

用于光学平板的高精度量具 [P].

陈本荣 ;

邓全清 ;

黄国章 .

中国专利 :CN201293626Y ,2009-08-19

[6]

一种高精度螺旋测微器 [P].

周东珂 .

中国专利 :CN201748876U ,2011-02-16

[7]

一种基于压电原理的高精度微夹持器 [P].

常博 ;

刘恒 ;

王政杰 ;

朱朝飞 ;

胡永帅 .

中国专利 :CN208084223U ,2018-11-13

[8]

公英制高精度测微头 [P].

冯培林 .

中国专利 :CN2060218U ,1990-08-08

[9]

一种高精度光学尺装置 [P].

曾祥有 ;

曾凡祺 ;

廖建明 ;

李芳灿 .

中国专利 :CN206399373U ,2017-08-11

[10]

基于激光测距的高精度测量尺 [P].

陈持一 .

中国专利 :CN209673077U ,2019-11-22

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