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利用叠前地震道集计算地层品质因数的方法及装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201310731132.7
申请日
:
2013-12-26
公开(公告)号
:
CN103698812B
公开(公告)日
:
2014-04-02
发明(设计)人
:
刘洋
申请人
:
申请人地址
:
100007 北京市东城区东直门北大街9号
IPC主分类号
:
G01V128
IPC分类号
:
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
任默闻
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-06-29
授权
授权
2014-04-02
公开
公开
2014-04-30
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101581899105 IPC(主分类):G01V 1/28 专利申请号:2013107311327 申请日:20131226
共 50 条
[1]
电感品质因数测量方法及相应的电感品质因数测量电路
[P].
王聪颖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王聪颖
;
王曌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王曌
;
计艳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
计艳
;
印辉云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
印辉云
;
舒文丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
舒文丽
.
中国专利
:CN112630541A
,2021-04-09
[2]
电感品质因数测量方法及相应的电感品质因数测量电路
[P].
王聪颖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华润微集成电路(无锡)有限公司
华润微集成电路(无锡)有限公司
王聪颖
;
王曌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华润微集成电路(无锡)有限公司
华润微集成电路(无锡)有限公司
王曌
;
计艳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华润微集成电路(无锡)有限公司
华润微集成电路(无锡)有限公司
计艳
;
印辉云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华润微集成电路(无锡)有限公司
华润微集成电路(无锡)有限公司
印辉云
;
舒文丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华润微集成电路(无锡)有限公司
华润微集成电路(无锡)有限公司
舒文丽
.
中国专利
:CN112630541B
,2024-07-23
[3]
用于计算混响腔的品质因数Q的方法
[P].
J·P·鲍莫尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
J·P·鲍莫尔
;
D·M·里维斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
D·M·里维斯
;
G·J·汉金斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
G·J·汉金斯
.
中国专利
:CN104426618B
,2015-03-18
[4]
一种利用地震数据确定品质因数的方法
[P].
王秋成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王秋成
;
王梅生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王梅生
;
李培明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李培明
;
马涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马涛
;
李伟波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李伟波
.
中国专利
:CN102778692A
,2012-11-14
[5]
用于由双传感器海上地震信号确定地层品质因数的方法
[P].
A·J·戴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
A·J·戴
;
G·康布瓦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
G·康布瓦
.
中国专利
:CN101726755A
,2010-06-09
[6]
品质因数获得装置、方法及异物检测方法
[P].
李正宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
伏达半导体(合肥)股份有限公司
伏达半导体(合肥)股份有限公司
李正宇
;
刘苗苗
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
伏达半导体(合肥)股份有限公司
伏达半导体(合肥)股份有限公司
刘苗苗
;
余丙涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
伏达半导体(合肥)股份有限公司
伏达半导体(合肥)股份有限公司
余丙涛
;
杨敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
伏达半导体(合肥)股份有限公司
伏达半导体(合肥)股份有限公司
杨敏
.
中国专利
:CN118777706A
,2024-10-15
[7]
无线功率传输系统的品质因数获得方法及装置
[P].
熊亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海伏达半导体有限公司
上海伏达半导体有限公司
熊亮
;
韩连杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海伏达半导体有限公司
上海伏达半导体有限公司
韩连杰
;
宋适
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海伏达半导体有限公司
上海伏达半导体有限公司
宋适
.
中国专利
:CN120629725A
,2025-09-12
[8]
确定品质因数的方法及无线充电器
[P].
王德昌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王德昌
;
江登宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
江登宇
;
盛儒洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
盛儒洋
;
毛欢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
毛欢
.
中国专利
:CN112928825A
,2021-06-08
[9]
高频腔频率及品质因数取样装置
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
吴杰峰
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李强
;
刘志宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学院合肥物质科学研究院
中国科学院合肥物质科学研究院
刘志宏
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
马建国
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
吉海标
;
史望琦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学院合肥物质科学研究院
中国科学院合肥物质科学研究院
史望琦
;
瞿清照
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学院合肥物质科学研究院
中国科学院合肥物质科学研究院
瞿清照
.
中国专利
:CN121142107A
,2025-12-16
[10]
压电陶瓷环机械品质因数计算方法和装置
[P].
董晓霄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
董晓霄
;
袁越
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
袁越
.
中国专利
:CN111310399B
,2020-06-19
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