光学测量设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410836441.5
申请日
2014-12-26
公开(公告)号
CN104534995B
公开(公告)日
2015-04-22
发明(设计)人
吴顺柏 罗锐 刘朋飞 杜荣钦 刘建华 王刚 高泽润 范小卫 郭明森 仝敬烁 尹建刚 高云峰
申请人
申请人地址
518055 广东省深圳市南山区高新技术园北区新西路9号
IPC主分类号
G01B1102
IPC分类号
G01B1106 G01B1124 G01B1126 G01B1130
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
平面度光学测量设备 [P]. 
刘建华 ;
彭玮 ;
吴鑫毅 ;
艾晓国 ;
仝敬烁 ;
尹建刚 ;
高云峰 .
中国专利 :CN203704886U ,2014-07-09
[2]
倒角尺寸光学测量设备 [P]. 
刘建华 ;
杜荣钦 ;
胡田军 ;
仝敬烁 ;
尹建刚 ;
高云峰 .
中国专利 :CN203704861U ,2014-07-09
[3]
一种光学测量设备 [P]. 
吴顺柏 ;
王红波 ;
刘朋飞 ;
辛亚康 ;
仝敬烁 ;
尹建刚 ;
高云峰 .
中国专利 :CN203518947U ,2014-04-02
[4]
一种光学测量系统及光学测量设备 [P]. 
宣海 ;
徐胜昌 .
中国专利 :CN210664337U ,2020-06-02
[5]
I/O接口位置度光学测量设备 [P]. 
王刚 ;
杜荣钦 ;
辛亚康 ;
赵志冰 ;
蔡敏明 ;
姜红亮 ;
高云峰 .
中国专利 :CN203657742U ,2014-06-18
[6]
光学测量设备 [P]. 
S·瓦德曼 .
中国专利 :CN101346620A ,2009-01-14
[7]
光学测量设备 [P]. 
南川义久 ;
武井英人 ;
末村悠祐 .
中国专利 :CN114518069A ,2022-05-20
[8]
光学测量设备 [P]. 
S·沃德曼 .
中国专利 :CN101427125A ,2009-05-06
[9]
光学测量设备 [P]. 
今西慎悟 ;
新井健雄 ;
堂胁优 .
中国专利 :CN101726461A ,2010-06-09
[10]
光学测量设备 [P]. 
K·尼古拉斯 ;
W·乔纳森 ;
D·佛罗莱恩 .
中国专利 :CN306020710S ,2020-08-28