样本测定装置及样本测定方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811558135.4
申请日
2018-12-19
公开(公告)号
CN109975570A
公开(公告)日
2019-07-05
发明(设计)人
胜见宏则 渡边雄治 芝正树 福崎刚
申请人
申请人地址
日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
IPC主分类号
G01N3510
IPC分类号
G01N3500
代理机构
北京市安伦律师事务所 11339
代理人
杨永波;韩景漫
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
样本测定方法及样本测定装置 [P]. 
能势智之 ;
友田小百合 ;
三井田佑辅 ;
堀井和由 ;
铃木健一郎 .
中国专利 :CN109856048A ,2019-06-07
[2]
样本测定装置及样本测定方法 [P]. 
芝正树 ;
胜见宏则 ;
福崎刚 .
中国专利 :CN110007098A ,2019-07-12
[3]
样本测定方法及样本测定装置 [P]. 
黑野浩司 ;
坂寄辅 ;
渡边由梨 .
中国专利 :CN112098662A ,2020-12-18
[4]
样本测定方法及样本测定装置 [P]. 
有吉俊辅 ;
福崎刚 ;
芝正树 .
日本专利 :CN109975565B ,2024-03-22
[5]
样本测定方法及样本测定装置 [P]. 
有吉俊辅 ;
福崎刚 ;
芝正树 .
中国专利 :CN109975565A ,2019-07-05
[6]
样本测定装置及样本测定方法 [P]. 
芝正树 ;
胜见宏则 ;
福崎刚 .
日本专利 :CN110007098B ,2024-07-05
[7]
样本测定装置以及样本测定方法 [P]. 
林雅人 ;
金子周平 ;
竹中莲太朗 .
日本专利 :CN118348263A ,2024-07-16
[8]
样本测定装置以及样本测定方法 [P]. 
樱田巧 ;
村上勇介 ;
高桥克典 .
日本专利 :CN119224350A ,2024-12-31
[9]
样本测定装置和样本测定方法 [P]. 
芝正树 ;
小竹宏纪 ;
加藤辉人 .
中国专利 :CN111751565A ,2020-10-09
[10]
样本测定装置以及样本测定方法 [P]. 
多田雅志 ;
胜见宏则 ;
大渊仁史 .
中国专利 :CN118731390A ,2024-10-01