涂层测厚仪测头

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202020198868.8
申请日
2020-02-24
公开(公告)号
CN211477062U
公开(公告)日
2020-09-11
发明(设计)人
张磊
申请人
申请人地址
100094 北京市海淀区尚东数字谷8号院37号楼5层
IPC主分类号
G01B2108
IPC分类号
G01B706
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
姜璐璐;赵燕力
法律状态
专利权质押合同登记的生效、变更及注销
国省代码
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共 50 条
[1]
一种多测头涂层测厚仪 [P]. 
杨可 ;
陈小龙 ;
冯学芳 ;
孙树渝 ;
杨琴 ;
唐林孜 .
中国专利 :CN214666718U ,2021-11-09
[2]
涂层测厚仪 [P]. 
郑艳艳 ;
罗秋霞 .
中国专利 :CN306660611S ,2021-07-06
[3]
涂层测厚仪 [P]. 
郑利鹏 ;
罗秋霞 .
中国专利 :CN306660610S ,2021-07-06
[4]
涂层测厚仪 [P]. 
张勇 .
中国专利 :CN304518497S ,2018-02-27
[5]
涂层测厚仪 [P]. 
何林 ;
辜超 .
中国专利 :CN302936356S ,2014-09-10
[6]
涂层测厚仪 [P]. 
郭飞 ;
何志军 ;
孙友臣 .
中国专利 :CN209246986U ,2019-08-13
[7]
涂层测厚仪 [P]. 
孙华强 .
中国专利 :CN213455410U ,2021-06-15
[8]
涂层测厚仪 [P]. 
张朋辉 ;
王魏 .
中国专利 :CN202599329U ,2012-12-12
[9]
涂层测厚仪 [P]. 
谢超 .
中国专利 :CN304704241S ,2018-06-29
[10]
涂层测厚仪 [P]. 
谢超 .
中国专利 :CN305040957S ,2019-02-19