一种便于安装的半导体测试探针

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申请号
CN202122534646.6
申请日
2021-10-20
公开(公告)号
CN216350853U
公开(公告)日
2022-04-19
发明(设计)人
杜永亿
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道马安堂社区布龙路227号格泰隆工业园D栋214
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
深圳市中融创智专利代理事务所(普通合伙) 44589
代理人
邹蓝;叶垚平
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种便于安装的半导体测试探针 [P]. 
杨斌 ;
黄峰荣 ;
何亮 ;
曾绍娟 .
中国专利 :CN217820523U ,2022-11-15
[2]
一种便于安装的半导体测试探针 [P]. 
王睿 .
中国专利 :CN214067233U ,2021-08-27
[3]
半导体测试探针 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN201348641Y ,2009-11-18
[4]
一种便于更换的半导体测试探针 [P]. 
王睿 .
中国专利 :CN214041489U ,2021-08-24
[5]
一种便于更换的半导体测试探针 [P]. 
尤红权 .
中国专利 :CN221765551U ,2024-09-24
[6]
便于半导体测试探针定向安装的SOCKET [P]. 
丁崇亮 ;
张飞龙 ;
井高飞 .
中国专利 :CN118443988A ,2024-08-06
[7]
一种半导体可靠性测试探针 [P]. 
沈乾国 .
中国专利 :CN223565756U ,2025-11-18
[8]
一种半导体测试探针 [P]. 
唐艳霞 .
中国专利 :CN209231396U ,2019-08-09
[9]
一种半导体测试探针 [P]. 
傅马腾 .
中国专利 :CN207248946U ,2018-04-17
[10]
一种半导体测试探针 [P]. 
陈煜明 ;
何明锋 .
中国专利 :CN217305266U ,2022-08-26