一种光分路器的插入损耗测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721496392.0

申请日：

2017-11-10

公开(公告)号：

CN207423499U

公开(公告)日：

2018-05-29

发明(设计)人：

蔡文龙刘丹黄望隆

申请人：

申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区佛祖岭一路七号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

王莹;吴欢燕

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光分路器的插入损耗测试装置 [P].

蒋明贺 .

中国专利 :CN114894445A ,2022-08-12

[2]

插入损耗测试装置 [P].

黄敏超 .

中国专利 :CN208314078U ,2019-01-01

[3]

一种新型无源光器件插入损耗测试装置 [P].

刘延文 ;

严慧敏 .

中国专利 :CN214010725U ,2021-08-20

[4]

一种滤波器插入损耗测试装置 [P].

李海洋 ;

王晓博 ;

高青 ;

康宁 ;

李煜 .

中国专利 :CN214750572U ,2021-11-16

[5]

滤波器插入损耗测试用快速切换式测试装置 [P].

李濛 .

中国专利 :CN217846461U ,2022-11-18

[6]

一种用于光分路器损耗测试装置 [P].

邹兆华 ;

宋慧 ;

熊宽 ;

岳成伟 .

中国专利 :CN223611075U ,2025-11-28

[7]

一种光纤集束器插入损耗的测试方法 [P].

吴国锋 ;

刘志强 ;

童章伟 ;

阳华 ;

岳耀笠 ;

李沼云 ;

张昕 ;

赵灏 ;

刘霄海 .

中国专利 :CN108254830B ,2018-07-06

[8]

一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置 [P].

黄世华 ;

罗绍益 .

中国专利 :CN214150868U ,2021-09-07

[9]

一种测试插入损耗的装置 [P].

吴晓宁 .

中国专利 :CN202948070U ,2013-05-22

[10]

插入损耗测试工装和测试装置 [P].

黄敏超 .

中国专利 :CN213302369U ,2021-05-28

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