光学量测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710201264.3

申请日：

2007-08-02

公开(公告)号：

CN101358834A

公开(公告)日：

2009-02-04

发明(设计)人：

周建宏

申请人：

申请人地址：

518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1103

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-02-17	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-02-04	公开	公开
2011-06-01	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101096275611 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2007102012643 公开日:20090204

共 50 条

[1]

振动的光学量测方法及光学量测系统 [P].

侯博勋 ;

陈鹏仁 ;

陈嘉昌 .

中国专利 :CN101750142A ,2010-06-23

[2]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[3]

光学量测系统 [P].

李彦志 .

中国专利 :CN215639275U ,2022-01-25

[4]

光学量测系统 [P].

李诗婷 ;

钟世宾 ;

王家祥 .

中国专利 :CN220524907U ,2024-02-23

[5]

光学量测系统 [P].

刘建圣 ;

施玟妤 .

中国专利 :CN117517302A ,2024-02-06

[6]

光学量测系统 [P].

郝祖德 ;

傅荔暄 ;

郑莹钦 ;

赖杰宏 .

中国专利 :CN212459405U ,2021-02-02

[7]

光学量测系统、光学量测方法及存储介质 [P].

庄源 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117450929B ,2024-03-22

[8]

光学量测系统、光学量测方法及存储介质 [P].

庄源 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117450929A ,2024-01-26

[9]

光学波前量测系统及光学波前量测方法 [P].

吴承勳 ;

邱健荣 .

中国专利 :CN110231149A ,2019-09-13

[10]

光学特性量测系统 [P].

郭鸿宾 .

中国专利 :CN202305174U ,2012-07-04

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