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一种用于电子元器件的测试夹具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201721798699.6
申请日
:
2017-12-21
公开(公告)号
:
CN207571170U
公开(公告)日
:
2018-07-03
发明(设计)人
:
石绍芳
申请人
:
申请人地址
:
471000 河南省洛阳市高新区延光路火炬园D座503室
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
代理机构
:
河南广文律师事务所 41124
代理人
:
王自刚
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-07-03
授权
授权
2020-12-01
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20171221 授权公告日:20180703 终止日期:20191221
共 50 条
[1]
一种用于电子元器件的测试夹具
[P].
石绍芳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市新啟电子科技有限公司
深圳市新啟电子科技有限公司
石绍芳
.
中国专利
:CN107870252B
,2024-01-23
[2]
一种用于电子元器件的测试夹具
[P].
石绍芳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石绍芳
.
中国专利
:CN107870252A
,2018-04-03
[3]
一种电子元器件测试夹具
[P].
牟前金
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
牟前金
.
中国专利
:CN211478378U
,2020-09-11
[4]
一种电子元器件用测试夹具
[P].
韩华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩华
.
中国专利
:CN211348320U
,2020-08-25
[5]
一种电子元器件测试夹具
[P].
代云启
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
代云启
;
张志刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
张志刚
;
惠辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
惠辉
;
马睿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马睿
.
中国专利
:CN206002649U
,2017-03-08
[6]
一种电子元器件测试夹具
[P].
汪凤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥迪盛电子科技有限公司
合肥迪盛电子科技有限公司
汪凤
;
汪华林
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
合肥迪盛电子科技有限公司
合肥迪盛电子科技有限公司
汪华林
;
汪凤娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥迪盛电子科技有限公司
合肥迪盛电子科技有限公司
汪凤娟
.
中国专利
:CN223685211U
,2025-12-19
[7]
一种电子元器件用测试夹具
[P].
路敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
路敏
.
中国专利
:CN216525904U
,2022-05-13
[8]
一种电子元器件专用测试夹具
[P].
彭细明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市禾盛精密电子有限公司
深圳市禾盛精密电子有限公司
彭细明
.
中国专利
:CN222318997U
,2025-01-07
[9]
电子元器件测试夹具
[P].
高毅勇
论文数:
0
引用数:
0
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0
高毅勇
;
何丽平
论文数:
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0
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何丽平
;
崔瑜
论文数:
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0
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0
崔瑜
.
中国专利
:CN206804693U
,2017-12-26
[10]
电子元器件测试夹具
[P].
李志文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李志文
.
中国专利
:CN2280918Y
,1998-05-06
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