一种测试夹具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020136542.9

申请日：

2010-03-18

公开(公告)号：

CN201749132U

公开(公告)日：

2011-02-16

发明(设计)人：

李明清赵素芳

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区福永镇富桥工业二区北区A3栋3楼

IPC主分类号：

G01R102

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一专利商标事务所 44237

代理人：

张全文

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-10	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 1/02 申请日:20100318 授权公告日:20110216
2011-02-16	授权	授权

共 50 条

[1]

一种测试夹具 [P].

杨勇 .

中国专利 :CN201247262Y ,2009-05-27

[2]

一种测试夹具 [P].

朱涛 ;

冼成杰 .

中国专利 :CN202093051U ,2011-12-28

[3]

一种测试夹具 [P].

郭延松 .

中国专利 :CN203117226U ,2013-08-07

[4]

一种测试夹具 [P].

郑建生 .

中国专利 :CN207882308U ,2018-09-18

[5]

一种测试夹具 [P].

柏成文 .

中国专利 :CN213581027U ,2021-06-29

[6]

一种测试夹具 [P].

吉涛 .

中国专利 :CN207396551U ,2018-05-22

[7]

一种晶圆级老化测试夹具 [P].

周斌 ;

郭孝明 ;

廉哲 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN221883712U ,2024-10-22

[8]

一种匹配测试夹具 [P].

杨宗伟 ;

刘绍侃 ;

刘长顺 .

中国专利 :CN204177832U ,2015-02-25

[9]

一种手机测试夹具 [P].

廖礼 .

中国专利 :CN209089065U ,2019-07-09

[10]

一种芯片测试夹具 [P].

杨斐 .

中国专利 :CN211292976U ,2020-08-18

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