吸收率测量系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710181381.8

申请日：

2007-10-23

公开(公告)号：

CN101170368A

公开(公告)日：

2008-04-30

发明(设计)人：

木南克规井山隆弘大西辉夫

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

H04B1700

IPC分类号：

G01R2908

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司

代理人：

李辉;吕俊刚

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-01-30	授权	授权
2008-04-30	公开	公开
2019-10-18	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04B 17/00 申请日:20071023 授权公告日:20130130 终止日期:20181023
2008-06-25	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

比吸收率测量系统和方法 [P].

大西辉夫 ;

山口良 ;

上林真司 ;

都甲浩芳 ;

清水直文 ;

永妻忠夫 .

中国专利 :CN1769926A ,2006-05-10

[2]

材料激光吸收率测量系统及方法 [P].

王浩伟 ;

贾浩琳 ;

王洪泽 ;

吴一 ;

廉清 ;

孙华 .

中国专利 :CN111595783A ,2020-08-28

[3]

吸收率检测 [P].

格内尔·托马斯·斯特拉特 ;

汤姆·厄于斯泰因·卡夫利 ;

埃斯彭·克洛宁 ;

顾尚东 .

中国专利 :CN112654875A ,2021-04-13

[4]

一种比吸收率测量稳定系统 [P].

齐殿元 ;

赵竞 ;

林军 ;

陈正一 ;

余纵瀛 .

中国专利 :CN208314173U ,2019-01-01

[5]

一种激光加工吸收率测量系统及方法 [P].

魏强龙 ;

王洪泽 ;

唐梓珏 ;

吴一 ;

任芃源 ;

王茂松 ;

王浩伟 .

中国专利 :CN119666926B ,2025-10-10

[6]

一种激光加工吸收率测量系统及方法 [P].

魏强龙 ;

王洪泽 ;

唐梓珏 ;

吴一 ;

任芃源 ;

王茂松 ;

王浩伟 .

中国专利 :CN119666926A ,2025-03-21

[7]

核磁共振仪下比吸收率的测量系统 [P].

刘颖 ;

安孝梅 ;

章浩伟 ;

李磊 .

中国专利 :CN105974208A ,2016-09-28

[8]

一种金属熔池激光吸收率分布在线测量系统和方法 [P].

刘卫平 ;

韦成华 ;

吴丽雄 ;

马志亮 ;

朱永祥 .

中国专利 :CN110095416A ,2019-08-06

[9]

减少电磁波吸收率的系统 [P].

金昌浩 .

中国专利 :CN114208399A ,2022-03-18

[10]

减少电磁波吸收率的系统 [P].

金昌浩 .

韩国专利 :CN114208399B ,2024-08-09

← 1 2 3 4 5 →