扫描测量装置

被引：0

申请号：

CN202210278932.7

申请日：

2022-03-21

公开(公告)号：

CN114739288A

公开(公告)日：

2022-07-12

发明(设计)人：

邓波

申请人：

申请人地址：

315000 浙江省宁波市高新区沧海路189弄2号4号楼A2

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1102 H04N104

代理机构：

深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314

代理人：

沈红曼

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20220321
2022-07-12	公开	公开

共 50 条

[1]

扫描测量装置 [P].

邓波 .

中国专利 :CN217210738U ,2022-08-16

[2]

激光扫描曲面测量装置 [P].

刘保华 ;

李敏 ;

侯传教 .

中国专利 :CN213363706U ,2021-06-04

[3]

扫描测量装置 [P].

郑俊 ;

张喆 ;

陈尚俭 .

中国专利 :CN218097649U ,2022-12-20

[4]

白光扫描测量装置 [P].

高杰 ;

吴翠鑫 ;

袁德贝 .

中国专利 :CN207472781U ,2018-06-08

[5]

涡轮扫描测量装置 [P].

丁晓庚 ;

徐鑫 ;

黄永骏 .

中国专利 :CN215761821U ,2022-02-08

[6]

信号扫描测量装置 [P].

郭克强 ;

丁祎明 ;

陈满堂 ;

牛军 .

中国专利 :CN104267621A ,2015-01-07

[7]

阵列扫描噪声测量装置 [P].

蒋伟康 ;

张焕强 .

中国专利 :CN106840374A ,2017-06-13

[8]

测量装置及其扫描系统 [P].

陈尚俭 ;

康健 .

中国专利 :CN218034944U ,2022-12-13

[9]

光学扫描高度测量装置 [P].

里吉宽之 ;

杉野公彦 ;

本间达朗 .

中国专利 :CN108253891B ,2018-07-06

[10]

光学扫描高度测量装置 [P].

秋柴雄二 ;

本间达朗 .

中国专利 :CN108253899A ,2018-07-06

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