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一种用于快中子成像的探测器及其校正方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110474710.8
申请日
:
2021-04-29
公开(公告)号
:
CN113189640A
公开(公告)日
:
2021-07-30
发明(设计)人
:
孙世峰
谷颖
李兴冀
张晓东
申请人
:
申请人地址
:
102206 北京市昌平区回龙观镇北农路2号
IPC主分类号
:
G01T700
IPC分类号
:
G01T306
代理机构
:
北京高沃律师事务所 11569
代理人
:
刘凤玲
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-30
公开
公开
2021-08-17
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 7/00 申请日:20210429
共 50 条
[1]
一种快中子成像探测器及探测系统
[P].
白怀勇
论文数:
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机构:
中国工程物理研究院材料研究所
中国工程物理研究院材料研究所
白怀勇
;
熊忠华
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机构:
中国工程物理研究院材料研究所
中国工程物理研究院材料研究所
熊忠华
;
苏明
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机构:
中国工程物理研究院材料研究所
中国工程物理研究院材料研究所
苏明
;
庞成果
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机构:
中国工程物理研究院材料研究所
中国工程物理研究院材料研究所
庞成果
;
李晨光
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机构:
中国工程物理研究院材料研究所
中国工程物理研究院材料研究所
李晨光
;
高凡
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机构:
中国工程物理研究院材料研究所
中国工程物理研究院材料研究所
高凡
;
文继
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机构:
中国工程物理研究院材料研究所
中国工程物理研究院材料研究所
文继
.
中国专利
:CN119471781A
,2025-02-18
[2]
快中子图像探测装置及快中子探测器阵列的制作方法
[P].
陈忠靖
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陈忠靖
;
张兴
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张兴
;
晏骥
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晏骥
;
蒋炜
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蒋炜
;
余波
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余波
;
涂绍勇
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涂绍勇
;
尹传盛
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尹传盛
;
蒲昱东
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蒲昱东
;
董云松
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董云松
;
刘慎业
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刘慎业
.
中国专利
:CN108919335A
,2018-11-30
[3]
一种快中子探测器
[P].
杨祎罡
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杨祎罡
;
张勤俭
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张勤俭
;
刘毅
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刘毅
.
中国专利
:CN103185894B
,2013-07-03
[4]
一种快中子探测器
[P].
杨祎罡
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杨祎罡
;
张勤俭
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张勤俭
;
刘毅
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刘毅
.
中国专利
:CN202404247U
,2012-08-29
[5]
一种快中子探测器
[P].
吴健
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吴健
;
曾丽娜
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曾丽娜
;
代少丰
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代少丰
;
叶岑明
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叶岑明
;
周浩军
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周浩军
;
王强
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王强
;
范晓强
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范晓强
;
蒋勇
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蒋勇
.
中国专利
:CN206725773U
,2017-12-08
[6]
一种快中子探测器
[P].
吴健
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吴健
;
曾丽娜
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曾丽娜
;
代少丰
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代少丰
;
叶岑明
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叶岑明
;
周浩军
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周浩军
;
王强
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王强
;
范晓强
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范晓强
;
蒋勇
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蒋勇
.
中国专利
:CN106980137A
,2017-07-25
[7]
用于快中子成像的探测系统
[P].
李玉兰
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李玉兰
;
付逸冬
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付逸冬
;
李元景
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李元景
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于海军
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于海军
;
常建平
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常建平
.
中国专利
:CN206362944U
,2017-07-28
[8]
快中子探测方法、物质识别方法及中子探测器
[P].
李元景
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李元景
;
杨祎罡
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杨祎罡
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李铁柱
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李铁柱
;
张勤俭
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张勤俭
;
吴彬
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吴彬
.
中国专利
:CN102109607B
,2011-06-29
[9]
一种新型快中子探测器
[P].
王义
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王义
;
罗明
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罗明
;
程建平
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程建平
;
李元景
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李元景
.
中国专利
:CN101403766A
,2009-04-08
[10]
用于快中子成像的方法及探测系统
[P].
李玉兰
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李玉兰
;
付逸冬
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付逸冬
;
李元景
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李元景
;
于海军
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于海军
;
常建平
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常建平
.
中国专利
:CN106610510A
,2017-05-03
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