物体三维形貌测量方法、系统和计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910535223.0
申请日
2019-06-20
公开(公告)号
CN111121663B
公开(公告)日
2020-05-08
发明(设计)人
李勇 魏一振 张卓鹏
申请人
申请人地址
310012 浙江省杭州市西湖区天目山路238号华鸿大厦A座404
IPC主分类号
G01B1125
IPC分类号
G06T733 G06T742 G06T760
代理机构
杭州华知专利事务所(普通合伙) 33235
代理人
张德宝
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种物体三维形貌测量方法、系统和计算机可读存储介质 [P]. 
李勇 ;
魏一振 ;
张卓鹏 .
中国专利 :CN111102938B ,2020-05-05
[2]
三维形貌测量方法、系统和计算机可读存储介质 [P]. 
刘畅 .
中国专利 :CN120576701A ,2025-09-02
[3]
物体三维测量方法、投影系统及计算机可读存储介质 [P]. 
赵振宇 ;
李屹 .
中国专利 :CN117629107A ,2024-03-01
[4]
镜面物体的三维测量方法、计算机可读存储介质 [P]. 
杨洋 ;
黄淦 ;
黄涛 ;
吴创廷 ;
郭家元 ;
翟爱亭 .
中国专利 :CN115661226A ,2023-01-31
[5]
镜面物体的三维测量方法、计算机可读存储介质 [P]. 
杨洋 ;
黄淦 ;
林泽伟 ;
魏宇明 ;
翟爱亭 .
中国专利 :CN116188556B ,2025-08-26
[6]
三维人体尺寸测量方法、系统及计算机可读存储介质 [P]. 
任茂栋 ;
谭方 ;
冯超 ;
庞鑫 .
中国专利 :CN114140515A ,2022-03-04
[7]
三维人体尺寸测量方法、系统及计算机可读存储介质 [P]. 
任茂栋 ;
谭方 ;
冯超 ;
庞鑫 .
中国专利 :CN114140515B ,2024-07-16
[8]
一种物体三维形貌测量装置 [P]. 
李勇 ;
魏一振 ;
张卓鹏 .
中国专利 :CN209820424U ,2019-12-20
[9]
三维测量的畸变校正方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
张嵩 .
中国专利 :CN109427046B ,2019-03-05
[10]
三维印痕测量方法、系统、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品 [P]. 
杨泺岱 ;
李季 ;
邓文平 .
中国专利 :CN120760630A ,2025-10-10