一种时钟同步测试巡检方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911028111.2

申请日：

2019-10-28

公开(公告)号：

CN110969082A

公开(公告)日：

2020-04-07

发明(设计)人：

潘峰吕博

申请人：

申请人地址：

100191 北京市海淀区花园北路52号

IPC主分类号：

G06K900

IPC分类号：

G06K920 G06K932 G06K962

代理机构：

北京德琦知识产权代理有限公司 11018

代理人：

杜志敏;宋志强

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/00 申请日:20191028
2020-04-07	公开	公开

共 50 条

[1]

一种时钟同步测试方法以及装置 [P].

李春雅 ;

李波波 ;

邹海明 ;

张立然 .

中国专利 :CN114167829B ,2024-05-14

[2]

一种时钟同步测试方法以及装置 [P].

李春雅 ;

李波波 ;

邹海明 ;

张立然 .

中国专利 :CN114167829A ,2022-03-11

[3]

基站的时钟同步测试系统、方法、装置和存储介质 [P].

冯俊彦 ;

许爱勤 ;

邱桥春 .

中国专利 :CN110248374B ,2019-09-17

[4]

一种同步测试装置与同步测试方法 [P].

林楷辉 ;

陈宏毅 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN114325335A ,2022-04-12

[5]

一种同步测试装置与同步测试方法 [P].

林楷辉 ;

陈宏毅 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN114325335B ,2025-01-14

[6]

同步系统测试方法、装置及同步测试设备 [P].

陆荣舵 .

中国专利 :CN114721465B ,2025-05-27

[7]

时间同步测试方法和装置 [P].

杜喆 ;

蒋铭 ;

汪国荣 ;

朱俊 .

中国专利 :CN108011773A ,2018-05-08

[8]

同步系统测试方法、装置及同步测试设备 [P].

陆荣舵 .

中国专利 :CN114721465A ,2022-07-08

[9]

芯片同步测试装置及芯片同步测试方法 [P].

徐靖林 ;

魏斌 ;

成嵩 ;

杜鹏程 ;

窦志军 ;

王栋 .

中国专利 :CN112130061B ,2024-04-26

[10]

芯片同步测试装置及芯片同步测试方法 [P].

徐靖林 ;

魏斌 ;

成嵩 ;

杜鹏程 ;

窦志军 ;

王栋 .

中国专利 :CN112130061A ,2020-12-25

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