光检测装置以及光检测装置的制造方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980045801.0

申请日：

2019-06-07

公开(公告)号：

CN112514071A

公开(公告)日：

2021-03-16

发明(设计)人：

森下胜

申请人：

申请人地址：

日本静冈县

IPC主分类号：

H01L27146

IPC分类号：

H01L3102 H01L3110

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

杨琦

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-16	公开	公开
2021-04-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/146 申请日:20190607

共 50 条

[1]

光检测装置以及光检测装置的制造方法 [P].

森下胜 .

日本专利 :CN112514071B ,2024-08-13

[2]

光检测装置的制造方法、及光检测装置 [P].

奥村亮介 ;

吉田侑生 ;

塚田祥贺 .

中国专利 :CN113474899A ,2021-10-01

[3]

光检测装置的制造方法、及光检测装置 [P].

奥村亮介 ;

吉田侑生 ;

塚田祥贺 .

日本专利 :CN119092521A ,2024-12-06

[4]

光检测装置的制造方法、及光检测装置 [P].

奥村亮介 ;

吉田侑生 ;

塚田祥贺 .

日本专利 :CN113474899B ,2024-09-13

[5]

光检测模块以及光检测装置 [P].

川田高弘 ;

北田菜津子 ;

武石贵明 ;

野崎孝明 .

中国专利 :CN112639447A ,2021-04-09

[6]

光检测装置、光检测装置的制造方法以及电子设备 [P].

羽根田雅希 ;

琴尾健吾 ;

白数佳纪 ;

下村和辉 ;

藤井宣年 ;

平野嵩明 ;

藤井洋辅 ;

大井上昂志 ;

斋藤卓 ;

石丸敏之 ;

大岛启示 ;

今井愼一 ;

黑鸟托也 ;

杉山知広 ;

三桥生枝 ;

徳冈贤一 .

日本专利 :CN117425963A ,2024-01-19

[7]

检测装置以及导光部的制造方法 [P].

富冈安 ;

松永和己 ;

日向野敏行 ;

西山和广 .

日本专利 :CN119992611A ,2025-05-13

[8]

光检测单元、光检测装置及光检测单元的制造方法 [P].

土屋龙太郎 ;

永野辉昌 ;

辻悠太 ;

河合刚 ;

大桑勇树 .

中国专利 :CN109313072A ,2019-02-05

[9]

光检测装置以及光检测方法 [P].

西胁青儿 .

中国专利 :CN106361269A ,2017-02-01

[10]

光检测装置 [P].

铃木孝治 ;

诹访阳祐 ;

名仓圭介 .

日本专利 :CN119054080A ,2024-11-29

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