扫描探针显微镜

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610152514.8
申请日
2016-03-17
公开(公告)号
CN106018882A
公开(公告)日
2016-10-12
发明(设计)人
山本浩令
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01Q1000
IPC分类号
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
李辉;黄纶伟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
扫描探针显微镜 [P]. 
武笠幸一 ;
末冈和久 ;
加茂直树 ;
细井浩贵 ;
泽村诚 .
中国专利 :CN1230669C ,2003-03-26
[2]
扫描探针显微镜 [P]. 
新井浩 ;
小暮亮雅 ;
山崎贤治 ;
藤井岳直 .
日本专利 :CN114324981B ,2024-04-26
[3]
扫描探针显微镜 [P]. 
岩佐真行 ;
鹿仓良晃 ;
工藤慎也 ;
上野利浩 .
中国专利 :CN110082566A ,2019-08-02
[4]
扫描探针显微镜 [P]. 
伊藤武史 .
中国专利 :CN101952706A ,2011-01-19
[5]
扫描探针显微镜 [P]. 
新井浩 ;
小暮亮雅 ;
山崎贤治 ;
藤井岳直 .
中国专利 :CN114324981A ,2022-04-12
[6]
扫描探针显微镜 [P]. 
大田昌弘 .
中国专利 :CN1831513A ,2006-09-13
[7]
扫描探针显微镜 [P]. 
钱锋 ;
王矛宏 ;
韩雄 ;
罗力 .
中国专利 :CN303050647S ,2014-12-24
[8]
扫描探针显微镜 [P]. 
平出雅人 .
中国专利 :CN106104278A ,2016-11-09
[9]
扫描探针显微镜 [P]. 
王宏 ;
奚爽 ;
李丹芸 .
中国专利 :CN1490606A ,2004-04-21
[10]
扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P]. 
山崎贤治 .
日本专利 :CN113466494B ,2025-03-14