电子元件的检测系统及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610958319.4

申请日：

2016-11-03

公开(公告)号：

CN106409716A

公开(公告)日：

2017-02-15

发明(设计)人：

丁万春范伟

申请人：

申请人地址：

226001 江苏省南通市崇川区崇川288号

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

钟子敏

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-02-22	著录事项变更	著录事项变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101747102465 IPC(主分类):H01L 21/66 专利申请号:2016109583194 变更事项:申请人变更前:南通富士通微电子股份有限公司变更后:通富微电子股份有限公司变更事项:地址变更前:226001 江苏省南通市崇川区崇川288号变更后:226001 江苏省南通市崇川区崇川288号
2017-02-15	公开	公开
2017-03-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101707267478 IPC(主分类):H01L 21/66 专利申请号:2016109583194 申请日:20161103
2020-03-27	授权	授权

共 50 条

[1]

电子元件检测系统及方法 [P].

黄郁儒 ;

黄启铭 ;

陈鸿文 .

中国专利 :CN111829948A ,2020-10-27

[2]

电子元件与检测系统的组合与电子元件的检测方法 [P].

洪东昇 .

中国专利 :CN103163361A ,2013-06-19

[3]

电子元件的检测系统及其检测方法 [P].

汪秉龙 ;

陈桂标 ;

陈信呈 ;

周明澔 .

中国专利 :CN101576510A ,2009-11-11

[4]

电子元件的检测系统 [P].

陈家铭 ;

蔡苏威 .

中国专利 :CN201141902Y ,2008-10-29

[5]

电子元件检测系统 [P].

梁晓思 ;

石高明 ;

刘勇 ;

武慧薇 ;

陈炎浩 ;

何玄 ;

何胜宗 ;

杨绍东 .

中国专利 :CN115097252A ,2022-09-23

[6]

电子元件检测系统 [P].

蔡苏威 ;

陈信豪 .

中国专利 :CN201335869Y ,2009-10-28

[7]

电子元件检测系统 [P].

汪秉龙 ;

陈桂标 ;

陈信呈 ;

邱证家 ;

张烘杰 .

中国专利 :CN204154657U ,2015-02-11

[8]

电子元件的检测系统及其方法 [P].

陈家铭 ;

蔡苏威 .

中国专利 :CN101398465B ,2009-04-01

[9]

电子元件的检测系统及其方法 [P].

蔡苏威 ;

陈信豪 .

中国专利 :CN101551431A ,2009-10-07

[10]

电子元件检测方法及设备 [P].

卢昱呈 ;

林铭展 ;

林冠龙 .

中国专利 :CN114371352B ,2025-08-26

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