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一种光电探测器检测装置及检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201611177769.6
申请日
:
2016-12-19
公开(公告)号
:
CN108204824A
公开(公告)日
:
2018-06-26
发明(设计)人
:
张晓亮
于中权
申请人
:
申请人地址
:
410205 湖南省长沙市枫林三路217号
IPC主分类号
:
G01C2500
IPC分类号
:
代理机构
:
长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113
代理人
:
郭立中
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-07-20
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 25/00 申请日:20161219
2018-06-26
公开
公开
2021-01-05
授权
授权
共 50 条
[1]
TO光电探测器同轴度检测装置及方法
[P].
苏杰
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苏杰
;
彭秀华
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彭秀华
;
卜晖
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卜晖
;
姚治惠
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姚治惠
;
肖业君
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肖业君
;
刘蘋
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刘蘋
;
文越
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文越
.
中国专利
:CN105157623A
,2015-12-16
[2]
一种光电探测器的检测方法、装置及系统
[P].
吴丽卓
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机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
吴丽卓
;
王彦龙
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机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
王彦龙
.
中国专利
:CN117433632A
,2024-01-23
[3]
一种雪崩光电探测器及光能检测装置
[P].
周志文
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周志文
;
贺敬凯
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贺敬凯
;
张卫丰
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张卫丰
;
王新中
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王新中
;
王瑞春
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王瑞春
.
中国专利
:CN201885758U
,2011-06-29
[4]
一种光电探测器的功率检测装置
[P].
陶丽
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陶丽
.
中国专利
:CN208092123U
,2018-11-13
[5]
基于平行光斑的硅象限光电探测器检测装置及阵列检测方法
[P].
邱开强
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机构:
重庆鹰谷光电股份有限公司
重庆鹰谷光电股份有限公司
邱开强
;
陈华清
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机构:
重庆鹰谷光电股份有限公司
重庆鹰谷光电股份有限公司
陈华清
;
罗蔚
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机构:
重庆鹰谷光电股份有限公司
重庆鹰谷光电股份有限公司
罗蔚
;
刘昆
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机构:
重庆鹰谷光电股份有限公司
重庆鹰谷光电股份有限公司
刘昆
;
杨帆
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机构:
重庆鹰谷光电股份有限公司
重庆鹰谷光电股份有限公司
杨帆
.
中国专利
:CN118465485A
,2024-08-09
[6]
光电检测电路及光电探测器
[P].
欧祥
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欧祥
;
陈思宏
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陈思宏
;
刘文喜
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刘文喜
;
王正
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王正
.
中国专利
:CN112363148A
,2021-02-12
[7]
一种光电探测器组件带宽检测方法和装置
[P].
刘占元
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刘占元
;
陈硕
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陈硕
;
侯继彪
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侯继彪
;
孙海江
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孙海江
;
郑天祥
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郑天祥
;
李璐
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李璐
;
崔虎宝
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崔虎宝
;
尉志勇
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尉志勇
.
中国专利
:CN104991180A
,2015-10-21
[8]
基于光电探测器的荧光检测装置
[P].
崔海
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崔海
;
卜俊恩
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卜俊恩
;
谭思佳
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谭思佳
;
谢姗
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谢姗
;
谢莉华
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谢莉华
.
中国专利
:CN218180675U
,2022-12-30
[9]
一种用于光电探测器的同轴度检测设备及检测方法
[P].
迟荣华
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机构:
无锡瀚诺光电科技有限公司
无锡瀚诺光电科技有限公司
迟荣华
;
杨宏恩
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机构:
无锡瀚诺光电科技有限公司
无锡瀚诺光电科技有限公司
杨宏恩
;
田婧妍
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机构:
无锡瀚诺光电科技有限公司
无锡瀚诺光电科技有限公司
田婧妍
;
李世雨
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机构:
无锡瀚诺光电科技有限公司
无锡瀚诺光电科技有限公司
李世雨
;
左官芳
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机构:
无锡瀚诺光电科技有限公司
无锡瀚诺光电科技有限公司
左官芳
;
单慧琳
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机构:
无锡瀚诺光电科技有限公司
无锡瀚诺光电科技有限公司
单慧琳
;
李红旭
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机构:
无锡瀚诺光电科技有限公司
无锡瀚诺光电科技有限公司
李红旭
.
中国专利
:CN119771774A
,2025-04-08
[10]
一种光电探测器同轴度检测装置及方法
[P].
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机构:
冯小波
;
论文数:
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机构:
张超
;
论文数:
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机构:
杨培志
;
论文数:
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机构:
陈英良
;
论文数:
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机构:
杨志坤
.
中国专利
:CN119178393B
,2025-02-07
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