一种O形密封圈多因子老化试验平台和老化试验方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911056970.2

申请日：

2019-10-31

公开(公告)号：

CN110608995A

公开(公告)日：

2019-12-24

发明(设计)人：

张智敏郝艳捧彭家豪阳林高超周福升王国利李立浧

申请人：

申请人地址：

510640 广东省广州市天河区五山路381号

IPC主分类号：

G01N1700

IPC分类号：

代理机构：

广州粤高专利商标代理有限公司 44102

代理人：

何淑珍;隆翔鹰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-24	公开	公开
2020-01-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 17/00 申请日:20191031

共 50 条

[1]

一种O形密封圈多因子老化试验平台 [P].

张智敏 ;

郝艳捧 ;

彭家豪 ;

阳林 ;

高超 ;

周福升 ;

王国利 ;

李立浧 .

中国专利 :CN211292499U ,2020-08-18

[2]

一种O形密封圈的老化试验装置及老化试验方法 [P].

罗颜 ;

黄青丹 ;

王邸博 ;

王炜 ;

傅明利 ;

王勇 ;

卓然 ;

宋浩永 ;

高萌 ;

李东宇 .

中国专利 :CN113588257A ,2021-11-02

[3]

一种老化试验方法和老化试验架 [P].

苏遵惠 ;

冯俊 ;

贺苏娟 .

中国专利 :CN102230876B ,2011-11-02

[4]

老化试验方法 [P].

岛泽幸司 ;

细井亮 ;

伊藤靖浩 ;

金子正明 ;

本田隆 ;

藤井隆司 ;

保坂浩治 .

中国专利 :CN102749532B ,2012-10-24

[5]

监视老化试验装置和监视老化试验方法 [P].

前崎义博 ;

勅使河原宽 ;

小平幸彦 ;

关口尚枝 .

中国专利 :CN101601098A ,2009-12-09

[6]

电流型老化试验系统和开关器件老化试验方法 [P].

李小兵 ;

潘广泽 ;

王春辉 ;

时钟 ;

李劲 ;

唐敬 ;

解江 ;

孟苓辉 ;

周健 ;

王远航 ;

刘文威 ;

杨剑锋 ;

罗琴 .

中国专利 :CN112526333B ,2024-12-13

[7]

电流型老化试验系统和开关器件老化试验方法 [P].

李小兵 ;

潘广泽 ;

王春辉 ;

时钟 ;

李劲 ;

唐敬 ;

解江 ;

孟苓辉 ;

周健 ;

王远航 ;

刘文威 ;

杨剑锋 ;

罗琴 .

中国专利 :CN112526333A ,2021-03-19

[8]

一种密封圈老化试验装置 [P].

王国利 ;

杨芸 ;

高超 .

中国专利 :CN107561000A ,2018-01-09

[9]

一种密封圈老化试验装置 [P].

王国利 ;

杨芸 ;

高超 .

中国专利 :CN207300835U ,2018-05-01

[10]

一种密封圈老化试验装置 [P].

郭和平 ;

郭宇 .

中国专利 :CN108982574A ,2018-12-11

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