测试治具的探针结构改良

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200520112322.1

申请日：

2005-07-06

公开(公告)号：

CN2833600Y

公开(公告)日：

2006-11-01

发明(设计)人：

颜鸿杰

申请人：

申请人地址：

台湾省桃园县中坜市王子街1－1号1楼

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

北京申翔知识产权代理有限公司

代理人：

周春发

法律状态：

专利权的终止(未缴年费专利权终止)

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-11-12	专利权的终止(未缴年费专利权终止)	专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2006-11-01	授权	授权

共 50 条

[1]

测试治具的探针结构 [P].

颜鸿杰 .

中国专利 :CN2798095Y ,2006-07-19

[2]

复合式治具的探针改良 [P].

刘朝昇 .

中国专利 :CN2681141Y ,2005-02-23

[3]

测试治具的探针安装结构 [P].

金苏文 .

中国专利 :CN207472929U ,2018-06-08

[4]

电路板测试治具的改良结构 [P].

颜鸿杰 .

中国专利 :CN2689249Y ,2005-03-30

[5]

探针测试治具 [P].

涂炳超 .

中国专利 :CN222965386U ,2025-06-10

[6]

探针测试治具 [P].

林小波 ;

杨小华 ;

朱永祥 ;

谢明智 ;

杨水良 .

中国专利 :CN217505935U ,2022-09-27

[7]

探针测试治具 [P].

徐奎 ;

魏朝刚 ;

张月华 .

中国专利 :CN203759063U ,2014-08-06

[8]

探针测试治具 [P].

吴承翰 ;

许美真 .

中国专利 :CN221946056U ,2024-11-01

[9]

改良的印刷电路板检测治具用探针结构 [P].

苏军梅 ;

李羲文 .

中国专利 :CN201993394U ,2011-09-28

[10]

检测治具用的改良探针检测结构 [P].

王天泽 .

中国专利 :CN202066881U ,2011-12-07

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