一种运行绝缘子污秽度测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510460501.2
申请日
2015-07-30
公开(公告)号
CN105067473A
公开(公告)日
2015-11-18
发明(设计)人
刘辉 沈庆河 刘怀宇 张若兵 姚金霞 刘嵘 寇梅如 胡晓黎 段玉兵 张皓 许光可 张围围
申请人
申请人地址
250002 山东省济南市市中区望岳路2000号
IPC主分类号
G01N502
IPC分类号
G01N2702
代理机构
济南圣达知识产权代理有限公司 37221
代理人
张勇
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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刘洋 ;
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[7]
一种绝缘子污秽度取样测量方法及专用漏斗装置 [P]. 
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