芯片模组的测试工装及测试系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202021210526.X
申请日
2020-06-24
公开(公告)号
CN212723212U
公开(公告)日
2021-03-16
发明(设计)人
张云倩 柯于洋 王德信
申请人
申请人地址
266100 山东省青岛市崂山区松岭路396号109室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R3126 G01R104 G01R1073
代理机构
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
张毅
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片模组的测试工装和测试系统 [P]. 
尹华钢 .
中国专利 :CN212483772U ,2021-02-05
[2]
电池模组测试工装 [P]. 
葛斌斌 ;
侯璟玥 ;
孔明星 .
中国专利 :CN217786406U ,2022-11-11
[3]
测试工装组件 [P]. 
沈维丰 ;
孙治 .
中国专利 :CN208272932U ,2018-12-21
[4]
芯片测试工装 [P]. 
王强 .
中国专利 :CN221946132U ,2024-11-01
[5]
模组测试工装 [P]. 
王小琼 ;
黄家晨 ;
王怀华 .
中国专利 :CN215598869U ,2022-01-21
[6]
测试工装及具有该测试工装的测试系统 [P]. 
张晓敏 .
中国专利 :CN206832279U ,2018-01-02
[7]
测试工装及测试系统 [P]. 
黄耀雄 ;
杨华生 ;
吴学伟 ;
李开旭 .
中国专利 :CN205679735U ,2016-11-09
[8]
测试工装及测试系统 [P]. 
邢立强 ;
疏达 .
中国专利 :CN220872661U ,2024-04-30
[9]
测试工装和测试系统 [P]. 
樊萌 ;
赵志勇 ;
徐霞 .
中国专利 :CN212163712U ,2020-12-15
[10]
测试工装、测试系统 [P]. 
何梦醒 ;
杨利娟 ;
祝林 .
中国专利 :CN222563787U ,2025-03-04