一种微区力致发光测量系统

被引：0

申请号：

CN202123446105.4

申请日：

2021-12-30

公开(公告)号：

CN217466677U

公开(公告)日：

2022-09-20

发明(设计)人：

何秀芳

申请人：

申请人地址：

361000 福建省厦门市中国(福建)自由贸易试验区厦门片区海景东路12号东侧一楼D区16号之十八

IPC主分类号：

G01N2170

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

深圳市博锐专利事务所 44275

代理人：

林栋

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种微区力致发光测量系统 [P].

何秀芳 .

中国专利 :CN114894774B ,2025-02-25

[2]

一种微区力致发光测量系统 [P].

何秀芳 .

中国专利 :CN114894774A ,2022-08-12

[3]

一种力致发光测量仪 [P].

胡秦徽 ;

邓水妹 .

中国专利 :CN210221823U ,2020-03-31

[4]

一种力致发光测量系统及测量方法 [P].

吴少凡 ;

陈曦 ;

张鲜辉 .

中国专利 :CN113432765A ,2021-09-24

[5]

一种微区荧光扫描测量系统 [P].

秦旭东 ;

张宏毅 ;

叶小玲 ;

陈涌海 .

中国专利 :CN104502315A ,2015-04-08

[6]

一种柔性脚底力测量系统 [P].

赵玉龙 ;

张学锋 ;

张雪蕾 ;

于忠亮 .

中国专利 :CN102657535B ,2012-09-12

[7]

微区光谱测量系统 [P].

郑著宏 .

中国专利 :CN101113949A ,2008-01-30

[8]

一种针对微区的光学特性测量系统及测量方法 [P].

张蜡宝 ;

吴洋 ;

贾小氢 ;

康琳 ;

陈健 ;

吴培亨 .

中国专利 :CN110595737A ,2019-12-20

[9]

一种微区非线性光学测量系统 [P].

王洪震 ;

王一丞 ;

张梁 ;

王泓人 ;

王睿晴 ;

冯全红 ;

张艳慧 .

中国专利 :CN114778487A ,2022-07-22

[10]

微区瞬态吸收光谱测量系统 [P].

谷鹏 ;

刘海云 ;

胡立立 ;

熊启华 .

中国专利 :CN115493695B ,2025-10-17

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