三维形状测量装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810177605.2

申请日：

2006-12-14

公开(公告)号：

CN101514893B

公开(公告)日：

2009-08-26

发明(设计)人：

高光一成银莹全文荣金珉永李承埈

申请人：

申请人地址：

韩国首尔

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司 11286

代理人：

韩明星;马翠平

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-08-26	公开	公开
2012-08-08	授权	授权
2009-10-21	实质审查的生效	实质审查的生效
2020-06-26	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01B 11/25 变更事项:专利权人变更前:株式会社高永科技变更后:株式会社高迎科技变更事项:地址变更前:韩国首尔变更后:韩国首尔

共 50 条

[1]

三维形状测量装置及方法 [P].

高光一 ;

成银莹 ;

全文荣 ;

金珉永 ;

李承埈 .

中国专利 :CN100520286C ,2007-06-20

[2]

三维形状测量方法及三维形状测量装置 [P].

成松修司 ;

堀口宏贞 ;

长谷川浩 .

中国专利 :CN114264252A ,2022-04-01

[3]

三维形状测量装置、三维形状测量方法 [P].

小池泰弘 .

中国专利 :CN110926358A ,2020-03-27

[4]

三维形状测量装置、三维形状测量系统及三维形状测量方法 [P].

饭田丰男 .

中国专利 :CN106931908A ,2017-07-07

[5]

三维形状测量方法以及三维形状测量装置 [P].

堀口宏贞 ;

成松修司 ;

长谷川浩 .

中国专利 :CN114166149A ,2022-03-11

[6]

三维形状测量装置及三维形状测量方法 [P].

阿部浩 ;

安田光次 ;

矢泽诚 .

中国专利 :CN100406848C ,2006-12-20

[7]

三维形状测量装置 [P].

廣桥博仁 .

中国专利 :CN111556952B ,2021-07-27

[8]

三维形状测量装置 [P].

朱哲敏 ;

成百天 .

韩国专利 :CN118871744A ,2024-10-29

[9]

三维形状测量装置 [P].

全文营 .

中国专利 :CN111735413A ,2020-10-02

[10]

三维形状测量装置 [P].

全文营 .

中国专利 :CN107735645B ,2018-02-23

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