芯片试验装置、系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011031348.9

申请日：

2020-09-27

公开(公告)号：

CN112098810A

公开(公告)日：

2020-12-18

发明(设计)人：

李文文袁瑞铭周丽霞刘科学易忠林谭志强郭皎刘岩姜振宇徐占河刘影鲁观娜张保亮郑思达高帅王亚超张晓丽刘丽卢炽华

申请人：

申请人地址：

102208 北京市昌平区回龙观二拨子北京人家小区北门对面

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

薛平;周晓飞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200927
2020-12-18	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片试验装置及系统 [P].

李文文 ;

袁瑞铭 ;

周丽霞 ;

刘科学 ;

易忠林 ;

谭志强 ;

郭皎 ;

刘岩 ;

姜振宇 ;

徐占河 ;

刘影 ;

鲁观娜 ;

张保亮 ;

郑思达 ;

高帅 ;

王亚超 ;

张晓丽 ;

刘丽 ;

卢炽华 .

中国专利 :CN213337905U ,2021-06-01

[2]

试验装置、系统及方法 [P].

谷峰 ;

徐彦 ;

张慧 ;

徐聪聪 ;

陶文辉 ;

柳景辰 .

中国专利 :CN118275255A ,2024-07-02

[3]

飞行试验控制方法、试验装置及系统 [P].

张翰 ;

陶永康 ;

王磊 .

中国专利 :CN117742208A ,2024-03-22

[4]

转台试验装置及系统 [P].

关文文 .

中国专利 :CN110455513A ,2019-11-15

[5]

试验装置、方法及系统 [P].

陈铁年 ;

韩红彬 ;

徐从谦 ;

隋德磊 .

中国专利 :CN103197662A ,2013-07-10

[6]

试验装置、系统及方法 [P].

李东兴 ;

曹晗 ;

张鹏 ;

郑全 ;

杨万欢 ;

钟巍华 ;

王辉 ;

杨文 .

中国专利 :CN115468848B ,2024-02-20

[7]

试验装置、系统及方法 [P].

李东兴 ;

曹晗 ;

张鹏 ;

郑全 ;

杨万欢 ;

钟巍华 ;

王辉 ;

杨文 .

中国专利 :CN115468848A ,2022-12-13

[8]

试验装置及试验系统 [P].

侯习武 ;

赵芳魁 ;

韦晓 ;

何丹 ;

王明 ;

南杨 ;

张猛 ;

宋振华 ;

张韬 ;

刘伟 ;

余惠敏 ;

朱小灿 ;

赵鹏 ;

李浩哲 ;

梁修华 .

中国专利 :CN216956190U ,2022-07-12

[9]

半导体芯片的试验装置及试验方法 [P].

竹迫良纪 .

日本专利 :CN114089150B ,2025-02-18

[10]

半导体芯片的试验装置及试验方法 [P].

竹迫良纪 .

中国专利 :CN114089150A ,2022-02-25

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