键盘测试装置

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专利类型
发明
申请号
CN98125389.X
申请日
1998-12-18
公开(公告)号
CN1258034A
公开(公告)日
2000-06-28
发明(设计)人
范成青
申请人
申请人地址
台湾省台北市松山区东兴路51号2楼
IPC主分类号
G06F3023
IPC分类号
代理机构
上海专利商标事务所
代理人
章蔚强
法律状态
实质审查请求的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
键盘测试装置 [P]. 
贺武 .
中国专利 :CN106291209A ,2017-01-04
[2]
多形态键盘自动测试装置 [P]. 
李衍文 .
中国专利 :CN1264075A ,2000-08-23
[3]
键盘寿命测试装置 [P]. 
张荣斌 .
中国专利 :CN104142467B ,2014-11-12
[4]
键盘寿命测试装置 [P]. 
张荣斌 .
中国专利 :CN203275596U ,2013-11-06
[5]
用以测试键盘的测试装置 [P]. 
胡才荣 ;
江正伟 .
中国专利 :CN223565222U ,2025-11-18
[6]
键盘的防漏测试装置 [P]. 
范成青 .
中国专利 :CN2446509Y ,2001-09-05
[7]
一种键盘测试装置 [P]. 
张福国 ;
朱林峰 .
中国专利 :CN208459556U ,2019-02-01
[8]
一种键盘测试装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN108829552A ,2018-11-16
[9]
一种键盘测试装置 [P]. 
潘立 ;
王润斌 ;
何喜 ;
吴文生 ;
郑春荣 .
中国专利 :CN201145715Y ,2008-11-05
[10]
一种键盘测试装置 [P]. 
张建德 ;
钟庭志 ;
罗惠斌 ;
黎敬斌 ;
林文培 .
中国专利 :CN221725552U ,2024-09-17