基于非接触原子力显微镜的微区载流子浓度测量方法

被引：0

申请号：

CN202111504580.4

申请日：

2021-12-10

公开(公告)号：

CN114942339A

公开(公告)日：

2022-08-26

发明(设计)人：

赖君奇陈琪陈立桅

申请人：

申请人地址：

215123 江苏省苏州市苏州工业园区若水路398号

IPC主分类号：

G01Q6024

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304

代理人：

孙伟峰;刘燚圣

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-26	公开	公开
2022-09-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q 60/24 申请日:20211210

共 50 条

[1]

基于非接触原子力显微镜的微区载流子浓度测量方法 [P].

赖君奇 ;

陈琪 ;

陈立桅 .

中国专利 :CN114942339B ,2025-07-04

[2]

基于角度测量的原子力显微镜测量方法 [P].

刘庆纲 ;

李志刚 ;

匡登峰 ;

李德春 ;

王璐 ;

李敏 .

中国专利 :CN1632518A ,2005-06-29

[3]

原子力显微镜及其测量方法 [P].

陈卓 .

中国专利 :CN112394199A ,2021-02-23

[4]

基于原子力显微镜的纳米电子薄膜微区压电系数测量方法 [P].

李言荣 ;

王志红 ;

曾慧中 ;

孙浩明 ;

古曦 .

中国专利 :CN101493487A ,2009-07-29

[5]

一种基于原子力显微镜的纳米颗粒浓度测量方法 [P].

杨浩 ;

程亮 ;

李相鹏 ;

彭明发 ;

蔡逸凡 ;

朱博韬 ;

宣光辉 .

中国专利 :CN110426335B ,2019-11-08

[6]

基于原子力显微镜的超薄切片厚度的测量方法 [P].

李鑫辉 ;

季彤 ;

李刚 ;

胡晓芳 ;

张晓东 ;

张陈平 ;

胡钧 .

中国专利 :CN1182381C ,2003-10-01

[7]

基于原子力显微镜的测量装置及台阶面测量方法 [P].

吴俊杰 ;

傅云霞 ;

李源 ;

蔡潇雨 ;

魏佳斯 ;

周勇 ;

孙恺欣 .

中国专利 :CN111487441A ,2020-08-04

[8]

基于原子力显微镜的测量装置及台阶面测量方法 [P].

吴俊杰 ;

傅云霞 ;

李源 ;

蔡潇雨 ;

魏佳斯 ;

周勇 ;

孙恺欣 .

中国专利 :CN111487441B ,2025-06-03

[9]

原子力显微镜刀尖测量的显微对准装置、原子力显微镜 [P].

韩雄 ;

钱锋 ;

王矛宏 .

中国专利 :CN216285372U ,2022-04-12

[10]

基于原子力显微镜的测量装置 [P].

吴俊杰 ;

傅云霞 ;

李源 ;

蔡潇雨 ;

魏佳斯 ;

周勇 ;

孙恺欣 .

中国专利 :CN212379431U ,2021-01-19

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