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测试夹具（Wafer通用测试夹具）
被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202130422323.0
申请日：
2021-07-05
公开(公告)号：
CN306962707S
公开(公告)日：
2021-11-26
发明(设计)人：
丁兆达
高强
历德义
申请人：
申请人地址：
201100 上海市闵行区友东路258-288号2幢101室
IPC主分类号：
1005
IPC分类号：
代理机构：
上海申新律师事务所 31272
代理人：
林志豪
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-11-26 | 授权 | 授权 |