带材表面缺陷检测成像方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710044005.4

申请日：

2007-07-19

公开(公告)号：

CN101349652A

公开(公告)日：

2009-01-21

发明(设计)人：

何永辉黄胜标宗德祥王健乔俊良石桂芬陆丽华

申请人：

申请人地址：

201900上海市宝山区富锦路果园

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

代理机构：

上海明成云知识产权代理有限公司

代理人：

周成

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-03-11	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-01-21	公开	公开
2011-09-21	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101185693936 IPC(主分类):G01N 21/88 专利申请号:2007100440054 公开日:20090121

共 50 条

[1]

表面缺陷检测方法、表面缺陷检测模型的训练方法及装置 [P].

黎文富 ;

缪泽军 ;

闫奕璞 ;

蒙均 ;

张广平 ;

白建强 .

中国专利 :CN118097301B ,2024-07-05

[2]

一种表面缺陷检测成像装置 [P].

杨威 .

中国专利 :CN218239852U ,2023-01-06

[3]

表面缺陷检测方法、表面缺陷检测模型的训练方法及装置 [P].

黎文富 ;

缪泽军 ;

闫奕璞 ;

蒙均 ;

张广平 ;

白建强 .

中国专利 :CN118097301A ,2024-05-28

[4]

光学元件表面及亚表面缺陷检测红外锁相成像装置 [P].

吴周令 ;

陈坚 ;

黄明 .

中国专利 :CN203101283U ,2013-07-31

[5]

表面缺陷检测方法及表面缺陷检测系统 [P].

曹文 ;

龙攀城 ;

丁玲玲 ;

付翱 .

中国专利 :CN115575399A ,2023-01-06

[6]

表面缺陷检测方法及表面缺陷检测装置 [P].

大野纮明 ;

儿玉俊文 ;

腰原敬弘 ;

小川晃弘 ;

饭塚幸理 .

中国专利 :CN105849534B ,2016-08-10

[7]

表面缺陷检测装置及表面缺陷检测方法 [P].

楯真沙美 ;

大野纮明 ;

大重贵彦 .

中国专利 :CN107709977B ,2018-02-16

[8]

表面缺陷检测方法和表面缺陷检测装置 [P].

雷富强 ;

马刘文 ;

关鹏 ;

张巍 ;

任海英 ;

李燃 ;

杨朝晖 ;

张富超 .

中国专利 :CN120655644A ,2025-09-16

[9]

一种表面缺陷检测装置及表面缺陷检测方法 [P].

朱文兵 ;

罗时帅 ;

钱曙光 ;

汪炉生 ;

柳洪哲 ;

柳云鸿 ;

钱根 ;

陶磊 .

中国专利 :CN114813760A ,2022-07-29

[10]

表面缺陷检测系统、表面缺陷检测方法及表面检测产线 [P].

曹文 ;

龙攀城 ;

丁玲玲 ;

付翱 .

中国专利 :CN115420750A ,2022-12-02

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