一种光学定位测量系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420114485.2

申请日：

2014-03-14

公开(公告)号：

CN204043683U

公开(公告)日：

2014-12-24

发明(设计)人：

雷枫李少博问孝明

申请人：

申请人地址：

100080 北京市海淀区中关村东路95号8号楼415室

IPC主分类号：

G01D526

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-30	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01D 5/26 申请日:20140314 授权公告日:20141224 终止日期:20170314
2014-12-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种便于测量回转类产品的光学测量装置 [P].

梁长和 ;

卢煜文 ;

黄少雄 .

中国专利 :CN210603192U ,2020-05-22

[2]

一种应力测量系统 [P].

闫本领 ;

毛松林 ;

薛理政 ;

刘斌 ;

齐立东 ;

闫晓强 .

中国专利 :CN206177488U ,2017-05-17

[3]

一种高精度液氮液位测量系统 [P].

黄阿娟 ;

冯欣宇 ;

卞荣耀 ;

何智 .

中国专利 :CN205208140U ,2016-05-04

[4]

一种激光测量仪 [P].

冯佳庆 ;

高云翔 ;

李小月 ;

郑水淀 ;

马学城 .

中国专利 :CN209991974U ,2020-01-24

[5]

一种电导率和氢电导率协同测量系统 [P].

田利 ;

刘玮 ;

戴鑫 .

中国专利 :CN210604487U ,2020-05-22

[6]

一种贫液总钾测量系统 [P].

雷云 .

中国专利 :CN211035725U ,2020-07-17

[7]

一种电导率和氢电导率协同测量系统及方法 [P].

田利 ;

戴鑫 ;

刘玮 .

中国专利 :CN110441353A ,2019-11-12

[8]

一种电导率和氢电导率协同测量系统及方法 [P].

田利 ;

戴鑫 ;

刘玮 .

中国专利 :CN110441353B ,2024-09-13

[9]

一种电流测量系统 [P].

李滨村 ;

张金明 .

中国专利 :CN206671419U ,2017-11-24

[10]

一种随钻测量系统 [P].

江海 ;

张得得 ;

王龙飞 ;

马赛 ;

张坤 .

中国专利 :CN218347375U ,2023-01-20

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