射频测试中的电磁屏蔽装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420503862.1

申请日：

2014-09-03

公开(公告)号：

CN204314346U

公开(公告)日：

2015-05-06

发明(设计)人：

任鹏飞董方朔胥怡心

申请人：

申请人地址：

200031 上海市徐汇区岳阳路76号

IPC主分类号：

G01R118

IPC分类号：

代理机构：

上海智信专利代理有限公司 31002

代理人：

王洁;郑暄

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-17	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/18 申请日:20140903 授权公告日:20150506 终止日期:20200903
2015-05-06	授权	授权

共 50 条

[1]

射频测试屏蔽装置 [P].

杨良春 .

中国专利 :CN205091366U ,2016-03-16

[2]

电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置 [P].

袁书传 ;

郑军奇 ;

叶琼瑜 ;

曹旸 .

中国专利 :CN204439718U ,2015-07-01

[3]

一种具有电磁屏蔽机构的射频测试装置 [P].

刘景祥 .

中国专利 :CN221667910U ,2024-09-06

[4]

一种手机射频测试电磁屏蔽箱 [P].

刘敬华 .

中国专利 :CN202652323U ,2013-01-02

[5]

一种电磁屏蔽测试装置 [P].

蔚凯 ;

马雅琼 ;

张明华 ;

王荣梅 .

中国专利 :CN205426975U ,2016-08-03

[6]

射频芯片测试电磁屏蔽箱 [P].

胡晓蔚 ;

何俊 ;

孙中良 ;

石帅涛 .

中国专利 :CN119335231A ,2025-01-21

[7]

射频芯片测试电磁屏蔽箱 [P].

胡晓蔚 ;

何俊 ;

孙中良 ;

石帅涛 .

中国专利 :CN119335231B ,2025-04-15

[8]

射频测试屏蔽治具 [P].

庄爱萍 ;

冯利民 .

中国专利 :CN216595238U ,2022-05-24

[9]

MRI环境中的射频屏蔽装置 [P].

张天雪 .

中国专利 :CN216700852U ,2022-06-07

[10]

射频测试屏蔽箱 [P].

黄啟培 .

中国专利 :CN214014896U ,2021-08-20

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