偏振光源、表面缺陷检测方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011001183.0

申请日：

2020-09-22

公开(公告)号：

CN112129764A

公开(公告)日：

2020-12-25

发明(设计)人：

熊志勇范建华曾成张晶

申请人：

申请人地址：

519180 广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

广州市红荔专利代理有限公司 44214

代理人：

王贤义;何承鑫

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20200922
2020-12-25	公开	公开

共 50 条

[1]

偏振光源和表面缺陷检测装置 [P].

熊志勇 ;

范建华 ;

曾成 ;

张晶 .

中国专利 :CN213933620U ,2021-08-10

[2]

光源装置、表面缺陷检测方法和装置 [P].

王瑾 ;

曹锋 ;

吕文阁 ;

王维语 ;

覃海云 ;

伍星 ;

游佳明 ;

高云峰 .

中国专利 :CN110501343B ,2019-11-26

[3]

表面缺陷检测方法和表面缺陷检测装置 [P].

雷富强 ;

马刘文 ;

关鹏 ;

张巍 ;

任海英 ;

李燃 ;

杨朝晖 ;

张富超 .

中国专利 :CN120655644A ,2025-09-16

[4]

表面缺陷检测方法及表面缺陷检测装置 [P].

大野纮明 ;

儿玉俊文 ;

腰原敬弘 ;

小川晃弘 ;

饭塚幸理 .

中国专利 :CN105849534B ,2016-08-10

[5]

表面缺陷检测方法以及表面缺陷检测装置 [P].

梅垣嘉之 ;

大野纮明 .

日本专利 :CN119895252A ,2025-04-25

[6]

表面缺陷检测装置及表面缺陷检测方法 [P].

楯真沙美 ;

大野纮明 ;

大重贵彦 .

中国专利 :CN107709977B ,2018-02-16

[7]

偏振光源器件 [P].

U·巴尼 ;

E·沙维夫 ;

H·阿贝尔 .

中国专利 :CN106133591A ,2016-11-16

[8]

一种基于偏振光学暗场成像的表面缺陷检测装置及方法 [P].

张斗国 ;

谢书玥 .

中国专利 :CN120741480B ,2025-11-07

[9]

一种基于偏振光学暗场成像的表面缺陷检测装置及方法 [P].

张斗国 ;

谢书玥 .

中国专利 :CN120741480A ,2025-10-03

[10]

表面缺陷检测方法和装置 [P].

黎华勇 ;

汤泉 ;

潘威 ;

曹玲 ;

卢盛林 .

中国专利 :CN119804319A ,2025-04-11

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