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端面齿接触着色的测量装置和测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111528822.3
申请日
:
2021-12-14
公开(公告)号
:
CN114235719A
公开(公告)日
:
2022-03-25
发明(设计)人
:
李晓宇
王慧秀
魏荣光
陶海亮
申请人
:
申请人地址
:
201208 上海市浦东新区自由贸易试验区英伦路38号四层409室
IPC主分类号
:
G01N2125
IPC分类号
:
代理机构
:
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
:
赵冬梅
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-25
公开
公开
2022-04-12
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/25 申请日:20211214
共 50 条
[1]
端面齿接触着色的测量装置和测量方法
[P].
李晓宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西门子能源有限公司
西门子能源有限公司
李晓宇
;
王慧秀
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0
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0
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机构:
西门子能源有限公司
西门子能源有限公司
王慧秀
;
魏荣光
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0
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机构:
西门子能源有限公司
西门子能源有限公司
魏荣光
;
陶海亮
论文数:
0
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0
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机构:
西门子能源有限公司
西门子能源有限公司
陶海亮
.
中国专利
:CN114235719B
,2024-10-01
[2]
接触力测量装置和接触力测量方法
[P].
藤泽贵雅
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藤泽贵雅
;
庭川诚
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庭川诚
;
渡部勇介
论文数:
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渡部勇介
;
池田充
论文数:
0
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0
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池田充
.
中国专利
:CN102292235A
,2011-12-21
[3]
测量装置和测量方法
[P].
铃木一隆
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铃木一隆
;
松井克宜
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松井克宜
;
丰田晴义
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丰田晴义
;
宅见宗则
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宅见宗则
;
袴田直俊
论文数:
0
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袴田直俊
.
中国专利
:CN105792730A
,2016-07-20
[4]
测量装置和测量方法
[P].
樋口诚
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樋口诚
;
源田弘长
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源田弘长
;
滨田龙也
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滨田龙也
;
江崎龙洋
论文数:
0
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江崎龙洋
.
中国专利
:CN115004006A
,2022-09-02
[5]
测量装置和测量方法
[P].
森広宣
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机构:
株式会社昭和真空
株式会社昭和真空
森広宣
;
塩野忠久
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机构:
株式会社昭和真空
株式会社昭和真空
塩野忠久
;
迹边好寿
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机构:
株式会社昭和真空
株式会社昭和真空
迹边好寿
.
日本专利
:CN118259057A
,2024-06-28
[6]
测量装置和测量方法
[P].
川西光宏
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
川西光宏
;
石田祐一
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
石田祐一
;
杉山太喜
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
杉山太喜
;
中尾道子
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
中尾道子
;
宫原和彦
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
宫原和彦
;
山野谅太
论文数:
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0
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
山野谅太
.
日本专利
:CN119053851A
,2024-11-29
[7]
测量装置和测量方法
[P].
托马斯·阿尔伯
论文数:
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0
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托马斯·阿尔伯
;
约阿希姆·阿尔贝特
论文数:
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约阿希姆·阿尔贝特
;
拉尔夫·施托伊尔瓦尔德
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拉尔夫·施托伊尔瓦尔德
;
迈克尔·汉克
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迈克尔·汉克
;
安哥拉·奥比施
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安哥拉·奥比施
.
中国专利
:CN107085117B
,2017-08-22
[8]
测量装置和测量方法
[P].
小松崎晋路
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小松崎晋路
;
铃木义将
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铃木义将
;
高桥知隆
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高桥知隆
.
中国专利
:CN114076950A
,2022-02-22
[9]
测量装置和测量方法
[P].
吕民圭
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机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
吕民圭
;
裴善雄
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机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
裴善雄
.
韩国专利
:CN120917554A
,2025-11-07
[10]
测量方法和测量装置
[P].
矢田英夫
论文数:
0
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矢田英夫
.
中国专利
:CN1540299A
,2004-10-27
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