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线性光耦线性度自动测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201410202938.1
申请日
:
2014-05-14
公开(公告)号
:
CN103969531A
公开(公告)日
:
2014-08-06
发明(设计)人
:
王允
申请人
:
申请人地址
:
450000 河南省郑州市高新区合欢街138号三层
IPC主分类号
:
G01R3100
IPC分类号
:
代理机构
:
郑州睿信知识产权代理有限公司 41119
代理人
:
胡泳棋
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-02-15
授权
授权
2014-09-03
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101586670992 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2014102029381 申请日:20140514
2014-08-06
公开
公开
共 50 条
[1]
一种线性光耦线性度自动测试装置
[P].
王允
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王允
.
中国专利
:CN203881868U
,2014-10-15
[2]
光耦传输比自动测试装置和系统
[P].
黄彦东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄彦东
;
韩雪松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩雪松
;
陈强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈强
;
谷建柱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谷建柱
;
张健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张健
.
中国专利
:CN205210610U
,2016-05-04
[3]
光耦传输比自动测试装置和系统
[P].
黄彦东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄彦东
;
韩雪松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩雪松
;
陈强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈强
;
谷建柱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谷建柱
;
张健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张健
.
中国专利
:CN106873436A
,2017-06-20
[4]
非线性消谐装置的非线性特性测试装置
[P].
毛长庚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
毛长庚
;
康文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
康文
;
苏翊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏翊
;
陶粤湘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陶粤湘
;
王建军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王建军
.
中国专利
:CN211603386U
,2020-09-29
[5]
一种旋转变压器线性度自动测试装置
[P].
何学莲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何学莲
;
马民
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马民
.
中国专利
:CN211928050U
,2020-11-13
[6]
一种自动测试系统阻抗电压测试装置
[P].
张进奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张进奇
;
蒋杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋杰
;
王维建
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王维建
.
中国专利
:CN206975092U
,2018-02-06
[7]
一种光噪声自动测试装置
[P].
毕欢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
寰信驿联(上海)科技有限公司
寰信驿联(上海)科技有限公司
毕欢
;
顾燚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
寰信驿联(上海)科技有限公司
寰信驿联(上海)科技有限公司
顾燚
;
金巧云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
寰信驿联(上海)科技有限公司
寰信驿联(上海)科技有限公司
金巧云
;
瞿雯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
寰信驿联(上海)科技有限公司
寰信驿联(上海)科技有限公司
瞿雯
.
中国专利
:CN220896696U
,2024-05-03
[8]
一种线性光耦电路
[P].
江文列
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
江文列
.
中国专利
:CN113285709A
,2021-08-20
[9]
光耦测试装置
[P].
卢铭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢铭
;
韦并东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韦并东
;
卢桥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢桥
.
中国专利
:CN207832917U
,2018-09-07
[10]
光耦测试装置
[P].
卢铭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢铭
;
韦并东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韦并东
;
卢桥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢桥
.
中国专利
:CN108107301A
,2018-06-01
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