样本分析装置及样本分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410426493.5

申请日：

2014-08-27

公开(公告)号：

CN104422782A

公开(公告)日：

2015-03-18

发明(设计)人：

有吉俊辅

申请人：

申请人地址：

日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号

IPC主分类号：

G01N3500

IPC分类号：

G01N3502

代理机构：

北京市安伦律师事务所 11339

代理人：

杨永波

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-04-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101655733879 IPC(主分类):G01N 35/00 专利申请号:2014104264935 申请日:20140827
2015-03-18	公开	公开
2018-04-24	授权	授权

共 50 条

[1]

样本分析系统、样本分析装置及样本分析方法 [P].

小田哲也 ;

桑野桂辅 ;

福间大吾 ;

有吉俊辅 .

中国专利 :CN103348250B ,2013-10-09

[2]

样本分析装置、样本分析方法及样本分析系统 [P].

加藤拓马 ;

福间大吾 ;

滨田雄一 .

中国专利 :CN103364575B ,2013-10-23

[3]

样本分析方法及样本分析装置 [P].

坂本光优 ;

小篠正继 .

中国专利 :CN104422646A ,2015-03-18

[4]

样本分析方法及样本分析装置 [P].

坂本光优 ;

小篠正继 .

中国专利 :CN104422645A ,2015-03-18

[5]

样本分析装置及样本分析方法 [P].

立山翔太 ;

金子哲也 .

中国专利 :CN105388305B ,2016-03-09

[6]

样本分析装置及样本分析方法 [P].

小田浩平 ;

胜见宏则 .

中国专利 :CN110873808A ,2020-03-10

[7]

样本分析装置及样本分析方法 [P].

小田浩平 ;

胜见宏则 .

日本专利 :CN110873808B ,2025-04-25

[8]

样本分析装置及样本分析方法 [P].

福寿利胜 ;

今津雅范 ;

芝正树 .

中国专利 :CN104950122B ,2015-09-30

[9]

样本分析装置及样本分析方法 [P].

丰屿弘人 ;

元津和典 .

中国专利 :CN102539800A ,2012-07-04

[10]

样本分析装置及样本分析方法 [P].

小篠正继 ;

坂本光优 ;

川野雅典 .

中国专利 :CN104880439B ,2015-09-02

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