光学测量系统及基于光学测量系统的成像方法

被引：0

申请号：

CN202211602684.3

申请日：

2022-12-14

公开(公告)号：

CN115665563A

公开(公告)日：

2023-01-31

发明(设计)人：

张琥杰张和君刘怡章智伟

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道学苑大道1001号南山智园B1栋2楼

IPC主分类号：

H04N2376

IPC分类号：

H04N2558 H04N5265 G02B2106 G01B1124

代理机构：

深圳舍穆专利代理事务所(特殊普通合伙) 44398

代理人：

邱爽

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-31	公开	公开
2023-02-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 23/76 申请日:20221214

共 50 条

[1]

基于多次成像的光学测量系统及成像方法 [P].

张琥杰 ;

张和君 ;

刘怡 ;

章智伟 .

中国专利 :CN116828318B ,2024-05-24

[2]

光学测量系统及提高光学测量系统成像质量的方法 [P].

王云强 ;

李学智 ;

万继敏 ;

周健 .

中国专利 :CN103630243A ,2014-03-12

[3]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[4]

光学测量系统 [P].

张琥杰 ;

刘怡 ;

张和君 ;

许陈旭 ;

霍阔 .

中国专利 :CN117006969B ,2024-07-09

[5]

光学测量系统及方法 [P].

刘涛 ;

张凌云 ;

张鹏斌 ;

陈鲁 .

中国专利 :CN109425619B ,2019-03-05

[6]

光学测量系统及方法 [P].

刘涛 ;

张凌云 ;

张鹏斌 ;

陈鲁 .

中国专利 :CN109425618A ,2019-03-05

[7]

光学测量系统及方法 [P].

侯博勳 ;

林原志 .

中国专利 :CN104748699A ,2015-07-01

[8]

光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺 [P].

王勇 .

中国专利 :CN104254755B ,2014-12-31

[9]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

[10]

光学测量系统及光学测量方法 [P].

蔡泰成 ;

吴岱纬 ;

廖冠咏 ;

许国君 ;

许寿文 ;

李允立 .

中国专利 :CN103364078A ,2013-10-23

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