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光声测量装置和与其一起使用的探头单元
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201280020727.5
申请日
:
2012-04-23
公开(公告)号
:
CN103491879A
公开(公告)日
:
2014-01-01
发明(设计)人
:
入泽觉
申请人
:
申请人地址
:
日本东京
IPC主分类号
:
A61B812
IPC分类号
:
代理机构
:
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219
代理人
:
李佳;穆德骏
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2014-01-01
公开
公开
2014-02-05
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101567137914 IPC(主分类):A61B 8/12 专利申请号:2012800207275 申请日:20120423
2015-07-01
授权
授权
共 50 条
[1]
光声测量装置和与其一起使用的探头单元、以及内窥镜
[P].
入泽觉
论文数:
0
引用数:
0
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0
入泽觉
.
中国专利
:CN103501707A
,2014-01-08
[2]
光声测量用探头及具备该光声测量用探头的光声测量装置
[P].
入泽觉
论文数:
0
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0
入泽觉
;
桥本温之
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桥本温之
.
中国专利
:CN105939669B
,2016-09-14
[3]
光声测量装置用探头
[P].
桥本温之
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0
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0
桥本温之
;
入泽觉
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入泽觉
.
中国专利
:CN303290387S
,2015-07-15
[4]
光声测量装置及光声测量装置的信号处理方法
[P].
桥本温之
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桥本温之
;
入泽觉
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0
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入泽觉
;
大泽敦
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大泽敦
;
井上知己
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0
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井上知己
.
中国专利
:CN108024794A
,2018-05-11
[5]
光声测量的仿真方法、光声测量方法及装置
[P].
邹新昊
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
邹新昊
;
董诗浩
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
董诗浩
;
陈煜杰
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
陈煜杰
;
杜航
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
杜航
;
李仲禹
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
李仲禹
.
中国专利
:CN120027712A
,2025-05-23
[6]
测定与光学装置一起使用的光学元件象差的方法和装置
[P].
高田和政
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高田和政
;
中城正裕
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中城正裕
;
西井完治
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西井完治
.
中国专利
:CN1244657A
,2000-02-16
[7]
光声探头和应用于光声成像的光学系统
[P].
邓翰迪
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邓翰迪
;
马骋
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马骋
;
陈誉文
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陈誉文
;
王铉皓
论文数:
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0
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0
王铉皓
.
中国专利
:CN109589093A
,2019-04-09
[8]
光声测量装置、移动控制方法和程序
[P].
依田晴夫
论文数:
0
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0
依田晴夫
.
中国专利
:CN102686148A
,2012-09-19
[9]
一种光声测量系统和测量膜厚的方法
[P].
董诗浩
论文数:
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董诗浩
;
杜航
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杜航
;
陈煜杰
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陈煜杰
;
李仲禹
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0
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李仲禹
.
中国专利
:CN115560683A
,2023-01-03
[10]
一种光声测量的建模方法、光声测量方法及系统
[P].
张晓雷
论文数:
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张晓雷
;
张厚道
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张厚道
;
梁洪涛
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
梁洪涛
;
董诗浩
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0
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
董诗浩
;
李仲禹
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
李仲禹
;
施耀明
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0
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
施耀明
.
中国专利
:CN115342741B
,2024-10-15
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