一种基于激光探针阵列的三维测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110322563.9

申请日：

2011-10-21

公开(公告)号：

CN102506748B

公开(公告)日：

2012-06-20

发明(设计)人：

李志扬

申请人：

申请人地址：

430079 湖北省武汉市洪山区珞瑜路152号华中师范大学物理科学与技术学院

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

G01B1100

代理机构：

武汉宇晨专利事务所 42001

代理人：

王敏锋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-06-20	公开	公开
2013-09-04	授权	授权
2012-07-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101301310572 IPC(主分类):G01B 11/24 专利申请号:2011103225639 申请日:20111021

共 50 条

[1]

一种基于激光探针阵列的三维摄影方法及装置 [P].

李志扬 .

中国专利 :CN102494609B ,2012-06-13

[2]

一种基于激光连续扫频的三维坐标测量装置及测量方法 [P].

王道档 ;

相超 ;

孔明 ;

许新科 ;

赵军 ;

刘维 ;

郭天太 .

中国专利 :CN110375643A ,2019-10-25

[3]

三维形状测量装置及测量方法 [P].

李承埈 ;

高光一 ;

全文荣 ;

尹相圭 ;

金弘珉 ;

许浈 .

中国专利 :CN103134446A ,2013-06-05

[4]

三维形状测量装置及测量方法 [P].

李承埈 ;

高光一 ;

全文荣 ;

尹相圭 ;

金弘珉 ;

许浈 .

中国专利 :CN101960253A ,2011-01-26

[5]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26

[6]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

木村匠 .

中国专利 :CN102628678B ,2012-08-08

[7]

三维测量装置、三维测量方法及三维测量用程序 [P].

林笃司 ;

高地伸夫 ;

七夕高也 ;

矶部祥子 .

中国专利 :CN113874677A ,2021-12-31

[8]

三维测量方法及系统 [P].

贾玮 .

中国专利 :CN115507773A ,2022-12-23

[9]

三维测量方法及系统 [P].

贾玮 .

中国专利 :CN115507773B ,2025-02-18

[10]

三维测量系统及三维测量方法 [P].

太田润 ;

松本慎也 ;

木口哲也 .

中国专利 :CN113748313A ,2021-12-03

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