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一种涂层厚度测量仪
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201821518934.4
申请日：
2018-09-17
公开(公告)号：
CN208936955U
公开(公告)日：
2019-06-04
发明(设计)人：
夏伟才
尹经超
杨帆
申请人：
申请人地址：
310000 浙江省杭州市西湖区学院路122号
IPC主分类号：
G01B706
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-06-04 | 授权 | 授权 |